Occasion HITACHI CG-5000 #293759621 à vendre en France

HITACHI CG-5000 Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant outil utilisé pour représenter des échantillons de matériaux à des niveaux de grossissement beaucoup plus élevés que la microscopie optique à la lumière couramment utilisée. HITACHI CG5000 a la capacité de produire des images à haute résolution et à fort contraste en interagissant avec l'échantillon avec un faisceau d'électrons dans un environnement sous vide. L'environnement sous vide permet au faisceau d'électrons d'interagir avec la surface des échantillons sans l'effet de diffusion qui se produirait si l'échantillon était dans une atmosphère. CG 5000 est capable d'imagerie à très haute résolution grâce à sa haute qualité d'optique électronique. Ce système permet d'obtenir une résolution d'image pouvant atteindre 10 nanomètres, ce qui en fait un outil précieux pour l'imagerie de structures nanométriques ou de caractéristiques topographiques minuscules. Le grand canon secondaire et d'émission de terrain de 80mm fournit des images particulièrement de haute qualité, ce qui en fait le système idéal pour la surveillance des échantillons de sous-microns. En outre, HITACHI CG 5000 dispose d'une variété de détecteurs pour fournir une analyse de sensibilité élevée des surfaces des échantillons. Ces détecteurs comprennent un détecteur d'électrons secondaire (SED), un détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED), un détecteur de rayons X dispersifs de longueur d'onde (WDXED) et un autostigmateur de tension d'accélération (AVA). Le SED est utilisé pour représenter la topographie de surface du spécimen, tandis que les détecteurs WDXED et ESB peuvent être utilisés pour identifier la composition des spécimens au moyen d'éléments atomiques ou d'analyses spécifiques à une région. L'AVA très adaptable garantit que la qualité de l'image est optimisée pour l'échantillon inspecté. CG5000 comprend également une sélection de postes de travail de préparation d'échantillons pour préparer des échantillons pour l'analyse SEM. Divers porte-échantillons sont disponibles en mode manuel ou automatisé, comme un système de tour de dosage sous vide pour la préparation de surface et des études de cristallographie aux rayons X. CG-5000 est un puissant outil d'imagerie pour toute une gamme d'applications, de l'analyse des métaux à l'inspection des emballages de dispositifs en passant par les études géologiques. La flexibilité de la variété des détecteurs et des systèmes de préparation des échantillons permet un large éventail d'applications. Si l'on souhaite une image haute résolution et contrastée de structures délicates ou de compositions de surface, HITACHI CG-5000 est capable de la fournir.