Occasion HITACHI EC-43MTPS #9399954 à vendre en France

HITACHI EC-43MTPS est un microscope électronique à balayage (SEM) à haute performance et grande facilité d'utilisation. Cet équipement polyvalent dispose d'un mode d'imagerie haute résolution entièrement automatisé conçu pour fournir une résolution d'image supérieure à celle des SEM classiques. Avec une combinaison de basse tension d'accélération et une forte mise en forme de canon, EC-43MTPS offre des mesures mécaniques semi-iquantitatives d'échantillons difficiles à observer avec les SEM classiques. En outre, le système fournit une imagerie ultra-haute vitesse et des études dynamiques, ce qui en fait un outil puissant pour des matériaux de haut niveau et des observations biologiques. L'unité offre un haut degré de flexibilité et est équipée d'une variété de fonctions optionnelles, y compris une fonction automatisée pour la mesure de l'épaisseur du film et un détecteur de champ lumineux. En outre, il est équipé d'une chambre de génération de micro-ondes pour la microanalyse des rayons X. C'est un choix idéal pour les chercheurs qui cherchent à accomplir une variété de tâches, y compris l'observation des caractéristiques des microparticules et l'observation des échantillons à l'échelle du micromètre. La lentille intégrée de condenseur à deux étages de la machine offre une résolution de 0,3 nm et offre une analyse avancée des caractéristiques des échantillons avec de petites tailles de grains, permettant une analyse des dommages de surface et des images haute résolution à collecter. En outre, il est également équipé d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés pour les études SEI (scanning electron imaging) et d'une colonne inclinée pour l'imagerie de couches de lumière et de matériaux minces. HITACHI EC-43MTPS dispose d'une gamme de capacités d'imagerie et de mesure. Il peut mesurer des paramètres tels que la largeur de la ligne, la taille du grain, la concentration des composants et la rugosité de la surface. Il peut également analyser les relations spatiales et la structure cristalline des matériaux, ainsi que d'évaluer un large éventail de structures telles que des films minces, des macromolécules et des couches minces. En outre, il peut également mesurer et analyser des caractéristiques électriques comme la résistivité et la surface. L'outil fournit également un mode d'imagerie de haute qualité pour prendre des images de rayons X et SEM de même les plus beaux détails de surface. La conception avancée de EC-43MTPS est impressionnante et offre une grande valeur aux chercheurs dans tous les domaines de la science. L'actif est à la fois fiable et extrêmement convivial, permettant un fonctionnement rapide et facile. En outre, il fournit une excellente qualité et un large éventail de capacités de mesure et d'analyse qui en font un excellent choix pour la recherche matérielle et biologique de haut niveau.