Occasion HITACHI FS200i II #293605451 à vendre en France

HITACHI FS200i II est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) conçu pour une grande variété d'applications. Il combine les dernières technologies de conception optique électronique, d'analyse d'images et de préparation d'échantillons pour produire des images claires et détaillées d'une grande variété de matériaux, des métaux aux polymères. A son coeur, le FS200i II est constitué par un détecteur multi-modes. Il s'agit d'un puissant outil de collecte d'images électroniques d'un échantillon à une résolution de 1,2 nm. Le détecteur multimode vous permet de basculer entre trois modes : l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée et l'imagerie simultanée. En outre, HITACHI FS200i II utilise un pistolet à émission en champ froid. Ceci permet l'accélération rapide des électrons. Les électrons accélérés avec ce canon ont une faible énergie, ce qui donne des images plus détaillées, avec moins de dommages d'échantillons. FS200i II profite de l'ingénierie de l'optique électronique pour former, accélérer et focaliser le faisceau d'électrons sur l'échantillon. Pour ce faire, on utilise un système de lentilles électrostatiques. Les lentilles intérieures de ce système sont positionnées à l'arrière du système et servent à contrôler et à focaliser le faisceau du canon à électrons. Les principales capacités d'analyse et d'imagerie de HITACHI FS200i II comprennent : la topogaphie électronique à balayage, l'analyse des rayons X dispersives d'énergie, la cartographie élémentaire des rayons X et l'imagerie électronique secondaire. Ces méthodes peuvent être utilisées pour analyser et caractériser une grande variété de matériaux. De plus, FS200i II dispose de techniques avancées de préparation de spécimens : Low-Vacuum, High Vacuum, Side-entry Pt/Pd Coater, et Low Vacuum Etch Process. Avec la technique Low Vacuum, quelques étapes de traitement peuvent être faites sans casser le vide. Cela permet une manipulation facile des échantillons et un contrôle de la contamination. Pour répondre aux besoins des établissements d'enseignement, HITACHI FS200i II est disponible en salle de classe et en laboratoire. Dans la version pédagogique, le microscope permet à l'utilisateur de basculer entre différentes lentilles pour ajuster l'intensité et la résolution de la microscopie. En conclusion, le microscope électronique à balayage FS200i II offre une excellente clarté d'image, une variété de méthodes d'analyse polyvalentes et des techniques avancées de préparation de spécimens. Il est capable de produire des images claires et à haute résolution dans un large éventail de matériaux, ce qui en fait un outil polyvalent et puissant pour la recherche et l'éducation.