Occasion HITACHI H-7600 #9096278 à vendre en France

HITACHI H-7600 est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) conçu pour l'imagerie, l'analyse de composition chimique et l'analyse de matériaux de précision. Il dispose d'un équipement électronique à balayage autonome et de multiples modules d'analyse. Cet instrument de laboratoire offre le plus haut niveau de performance analytique, de fiabilité et de fonctionnalités conviviales pour faciliter son fonctionnement. Le puissant microscope électronique à balayage H-7600 comprend un module de spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) de pointe, une colonne focalisée de faisceau d'ions et une résolution en mode B (niveau micron). Ce système machinal/électrique offre une imagerie inégalée et des capacités d'analyse très précises pour un large éventail de matériaux. L'unité d'imagerie de HITACHI H-7600 a une conception de détecteur MAXG propriétaire et une lentille Gemini Column qui permet une large gamme de configurations d'imagerie. Sa machine d'imagerie offre à la fois des performances haut de gamme et une polyvalence. Les détecteurs de champ lumineux et de rétrodiffusion de H-7600 offrent également des images de haute résolution de matériaux aussi minces que 1 µm. Une fente nano-capable a été ajoutée à l'outil pour permettre l'imagerie basse tension des nano-objets. L'actif EDS de HITACHI H-7600 fournit une large gamme de capacités d'analyse élémentaire. Il est équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie qui dispose d'une plage d'analyse allant jusqu'à 10 keV, d'un détecteur de silicium au lithium dérivé et d'une chambre à vide refroidie par Peltier. H-7600 dispose également d'un modèle d'analyse EDS avec une large gamme de limites et de résolutions de détection, assurant la compatibilité avec une variété d'échantillons et d'applications. HITACHI H-7600 dispose également d'une colonne focalisée de faisceau d'ions qui est équipée d'un détecteur CCD haute résolution. Cette colonne est conçue pour fournir une image précise des sections du matériau à l'échelle du nanomètre. Il est également utilisé pour créer des images haute résolution de profils de bord de ligne ou de motifs de nano-fabrication. H-7600 Scanning Electron Microscope est un outil précieux pour les chercheurs en matériaux et d'autres applications scientifiques et industrielles. Ses capacités d'analyse et d'imagerie avancées en ont fait un instrument de pointe pour un large éventail d'applications, telles que l'analyse des défaillances et la caractérisation des semi-conducteurs.