Occasion HITACHI HD-2300 #293830390 à vendre en France

HITACHI HD-2300 est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de fournir des capacités d'imagerie et d'analyse à haute résolution pour une large gamme d'échantillons. Il a une large gamme de caractéristiques, y compris plusieurs modes d'imagerie, un étage d'échantillons inclinables, un détecteur EDX, et la capacité de mesurer les signaux électroniques secondaires et rétrodiffusés. Le mode d'imagerie primaire de HITACHI HD 2300 est le mode de balayage du faisceau électronique (SEB). Ce mode est capable de fournir des images haute résolution d'échantillons à des grossissements allant de 5x à 1.000.000x. Le mode SEB est également capable d'obtenir des images d'électrons secondaires ainsi que des images d'électrons rétrodiffusées. HD-2300 comprend également un étage d'inclinaison de spécimen X-Y motorisé. Cette étape permet d'incliner les échantillons jusqu'à 360 degrés afin de mieux acquérir des données d'imagerie in situ. Cet étage inclinable permet également d'automatiser l'imagerie de l'angle de l'étage SEM (SA-SEM). Une autre caractéristique majeure de HD 2300 est le spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDX). Ce spectromètre fournit une analyse élémentaire qualitative et quantitative des échantillons au microscope jusqu'à des profondeurs allant jusqu'à plus de 10 microns. Il est capable de mesurer plus de 68 éléments de Be à U. HITACHI HD-2300 comprend également la capacité de mesurer des signaux électroniques secondaires (SE) ainsi que des signaux électroniques rétrodiffusés (ESB). Ces signaux fournissent des capacités d'imagerie permettant d'identifier des structures et des types de matériaux particuliers. Le détecteur secondaire d'électrons (SED) et le détecteur rétrodiffusé d'électrons (BED) fournissent tous deux des renseignements supplémentaires sur la composition de l'échantillon et ses structures. En résumé, HITACHI HD 2300 est un puissant microscope électronique à balayage qui fournit des capacités d'imagerie et d'analyse. Il comprend le mode d'imagerie SEB, l'étape d'inclinaison des échantillons X-Y motorisés, le spectromètre EDX et la capacité de mesurer les signaux SE et ESB. Toutes ces caractéristiques combinées font de HD-2300 un outil puissant pour la caractérisation des échantillons.