Occasion HITACHI HL 950 #9175357 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI HL 950 (SEM) est un microscope électronique à haute résolution conçu pour l'imagerie de la surface de petits échantillons à résolution nanométrique. Il utilise une combinaison d'un faisceau d'électrons à haute énergie et d'une unité de balayage pour créer des images à un grossissement allant jusqu'à 4500x. Le SEM a un large éventail d'applications dans des domaines tels que la science des matériaux, la microélectronique, la chimie et la biologie. HL 950 SEM dispose d'un système d'objectif intégré de Ø150-280 mm capable d'agrandir jusqu'à 4 500 x, ce qui le rend idéal pour l'imagerie à micro- et nanométrique. Il dispose également d'un objectif d'aberration-correction de 0,60 NA réglable à l'infini qui peut produire des images à haute résolution sans introduire de distorsion. Le SEM est équipé d'un canon à électrons capable d'accélérer les électrons jusqu'à 20 keV avec un courant de faisceau réglable de 0,2 - 25 nanomamps. Cette haute tension permet au SEM de pénétrer et de sonder les structures à l'échelle du micromètre et du nanomètre. Le SEM a un design compact avec une caméra CCD monochrome haute résolution reliée directement au canon à électrons arrière pour l'imagerie in-focus ou, si nécessaire, une caméra latérale secondaire pour l'imagerie hors axe. Le logiciel comprend le contrôle automatique des étages, la détection et la correction des limites, et des capacités de traitement d'images logicielles comme le contour et la détection des bords pour améliorer la clarté de l'image. Le HITACHI HL 950 SEM est également équipé d'une chambre à vide pour réduire les effets de charge des échantillons induits par le faisceau d'électrons. La chambre maintient une pression de base de 1 x 10-6 Torr et toutes les installations et composants nécessaires, y compris une alimentation EHT et plusieurs pompes à ions, détecteurs d'électrons et de gaz, et une tension de cathode variable. Le SEM est compatible avec les techniques d'imagerie secondaires, y compris la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) et la tomographie atome-sonde (APT). Le logiciel HITACHI EDS peut détecter des éléments jusqu'aux concentrations de traces, ce qui est un grand avantage lors de l'analyse de la composition ou de la qualité des échantillons. Enfin, HL 950 SEM a une variété de caractéristiques de sécurité pour minimiser les risques de dommages à la fois aux échantillons et à l'opérateur. Un bouclier anti-contamination est installé sur l'échantillon afin de réduire le risque d'exposition accidentelle. Un système de verrouillage des portes empêche le SEM d'être alimenté sans le bouclier en place.