Occasion HITACHI IS 3200SE #293672029 à vendre en France

HITACHI IS 3200SE Scanning Electron Microscope (SEM) est un équipement SEM de cinquième génération conçu pour l'analyse d'échantillons ultra-petits, permettant une imagerie haute résolution avec une stabilité et une intégrité supérieures du faisceau sur une large gamme de conditions de pression et de température. IS 3200SE SEM offre une automatisation, une sensibilité, un grossissement, une résolution et une clarté sans précédent. La conception de déflecteurs de pointe et les technologies de haut niveau garantissent une plus grande flexibilité et une plus grande facilité d'utilisation, ainsi qu'une meilleure précision d'imagerie. HITACHI IS 3200SE offre une variété de fonctionnalités, dont la compatibilité de la taille et de la température de l'échantillon, la haute tension d'accélération, l'imagerie avancée au niveau des semi-conducteurs et l'imagerie haute fidélité. L'unité comprend également des fonctions avancées d'analyse d'image et des étapes d'échantillonnage entièrement automatisées qui garantissent que toutes les mesures sont obtenues avec précision et précision. La technologie de balayage rapide et d'imagerie haute résolution IS 3200SE permet aux utilisateurs de résoudre et d'analyser les structures de sous-microns avec le plus grand degré de précision. La machine est équipée d'un étage de haute précision, entraînant des vibrations minimales et assurant la stabilité de l'acquisition d'image. Avec ses performances stables, HITACHI IS 3200SE est idéal pour les applications de diffraction électronique, de nanofabrication et de nanoautomation. Par ailleurs, IS 3200SE présente un étage d'échantillon électriquement conducteur capable de maintenir des échantillons non magnétiques très conducteurs tels que des plaquettes semi-conductrices. L'étage permet également une imagerie stable et un balayage par étage afin d'acquérir des mesures précises. HITACHI IS 3200SE est conçu pour offrir aux utilisateurs une flexibilité maximale en termes de finition et de taille des échantillons. Il est équipé d'un outil automatisé d'échange d'échantillons ainsi que d'une large gamme de porte-échantillons et d'accessoires pour accueillir une variété de tailles et de types d'échantillons. Enfin, IS 3200SE permet aux utilisateurs de réaliser une microscopie électronique détaillée et complète à balayage. L'actif est très efficace dans des applications telles que la fabrication de dispositifs métalliques-oxyde-semiconducteur (MOS) et l'analyse des matériaux. Sa conception unique permet également aux utilisateurs de personnaliser les paramètres d'imagerie en fonction de leurs besoins spécifiques. Dans l'ensemble, HITACHI IS 3200SE Scanning Electron Microscope offre les dernières avancées technologiques en matière d'analyse SEM, permettant aux utilisateurs d'obtenir une précision et une flexibilité d'imagerie sans précédent. Il est idéal pour l'imagerie haute résolution, l'automatisation de mesures complexes, la diffraction électronique et les applications de nanoautomation.