Occasion HITACHI NE-4000 #9260762 à vendre en France
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ID: 9260762
Style Vintage: 2011
Electron Beam Absorbed Current (EBAC) characterization system
Driving method: Piezoelectric
Fine stroke range: 5 µm (X,Y)
Coarse stroke range: 6 mm (X,Y)
Specimen stage / Base stage
Specimen size: 25 mm × 25 mm × 1 mm Thick or less
Traverse position: Measurement / Specimen exchange position
Specimen exchange: Air-locked exchange chamber
Prober navigation:
Stage traverse to probe position
Measurement position memory
Probe coarse adjustment:
CCD Image display: Image display from lateral direction
Electron optics:
Electron gun: Cold field emission electron source
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Resolution: 15 nm (at 2 kV, WD: 15 mm)
Image shift: ±150 µm (at 2 kV, WD: 15 mm)
EBAC Amplifier / Image display:
Amplifier type: Current amplifier / Differential amplifier
Image display: SEM / EBAC (Single / Parallel / Overlay)
Image processing:
Black and white reversal display
Color display
Brightness adjustment
Slow scan integration
Belt scan
Utility:
Room temperature: 15°C - 25°C
Humidity: 60% RH or Less
Grounding: 100Ω or Less
Power supply: AC 100 V, ±10% 5 kVA (M5 Crimp terminal)
2011 vintage.
HITACHI NE-4000 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour la recherche et l'analyse industrielle. L'équipement est équipé d'un tomographe numérique, offrant d'excellents niveaux de grossissement et une grande variété de capacités d'imagerie. Avec les capacités de balayage haute résolution et un système intégré d'analyse d'image, NE-4000 est capable d'imagerie précise de microstructures avec une résolution allant jusqu'à 0,35 nm. Le microscope a un objectif conçu pour maximiser l'efficacité et la performance de l'imagerie. Pour assurer la stabilité et la reproductibilité, le faisceau d'électrons est alimenté par un signal de puissance ultra haute fréquence. D'autres caractéristiques du microscope comprennent une source de décharge de pellicule d'échantillon, une chambre d'échantillonnage avec une température maximale de 540 ° C, un blanc de faisceau dans la colonne, et une unité de commande de canon à électrons. L'unité HITACHI NE-4000 dispose également d'une machine de manutention de spécimens entièrement automatisée, qui peut être utilisée pour monter et introduire les spécimens à des fins d'analyse. Cet outil permet à l'utilisateur de réaliser des balayages à haute résolution de l'échantillon avec un contrôle précis de la position et du grossissement de l'échantillon. Avec l'atout automatisé en place, le microscope peut être utilisé pour une gamme d'applications telles que la cartographie, l'imagerie 3D, la microscopie corrélative, et plus encore. Les performances d'imagerie de haute précision du modèle sont encore améliorées par l'utilisation d'un appareil photo CCD, qui est connecté directement au microscope. Ce système est capable de capturer des images numériques allant jusqu'à 25 mégapixels avec un niveau de détail impressionnant. Les images sont également faciles à traiter, car l'unité est compatible avec une variété de logiciels d'analyse et de manipulation d'images. NE-4000 machine est également équipée d'une gamme d'outils de traitement, d'imagerie et de mesure du signal tels qu'un étage de balayage rapide, un traitement d'image intelligent et une imagerie numérique haute résolution pour améliorer les performances d'imagerie. En outre, le microscope est également capable d'afficher des images 3D en temps réel, ce qui rend l'outil particulièrement adapté aux applications de l'inspection industrielle et de la recherche en laboratoire. Dans l'ensemble, HITACHI NE-4000 est le choix idéal pour l'imagerie haute résolution des microstructures au niveau des nanomètres. Avec sa gamme de capacités d'imagerie avancées et sa manipulation automatisée des spécimens, il est en mesure de fournir des images précises avec d'excellents niveaux de détail et de précision. L'actif a été conçu pour être convivial et facile à utiliser, ce qui en fait un excellent choix pour la recherche et les applications industrielles.
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