Occasion HITACHI / REGULUS 8100 #9353290 à vendre en France
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Vendu
ID: 9353290
Style Vintage: 2017
Scanning Electron Microscope (SEM)
With OXFORD EDX
2017 vintage.
HITACHI/REGULUS 8100 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre un large éventail de caractéristiques pour l'analyse de spécimens. Le microscope est équipé d'un design unique pour offrir une qualité d'image supérieure et une imagerie de haute précision. Ses caractéristiques avancées comprennent l'imagerie haute résolution, un haut niveau de détail pour l'imagerie conceptuelle et une grande profondeur de champ pour permettre aux utilisateurs de comprendre et d'étudier la structure des spécimens en détail. HITACHI 8100 est capable d'imager une large gamme de tailles et de formes d'échantillons avec ses détecteurs de rayonnement infrarouge (IR) et ultraviolet (UV) avancés. Son système de déflexion électrostatique rapide et son système d'alignement de focalisation sont également capables d'obtenir des résolutions plus élevées dans des matériaux transparents et opaques. Son filtre HEPA comprend une chambre à vide optiquement pure pour empêcher les particules polluantes indésirables d'affecter l'échantillon. Le système de détection utilisé par REGULUS 8100 présente une sensibilité élevée basée sur un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) qui fournit des images claires et claires. La détection SEM présente une capacité d'imagerie haute résolution qui peut être utilisée pour observer les caractéristiques structurelles de l'échantillon. De plus, un détecteur de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) fournit une analyse élémentaire qualitative. L'environnement de fonctionnement sous vide du microscope garantit que l'imagerie haute résolution, cristalline et sensible est atteinte. Cet environnement de fonctionnement fournit un haut niveau de qualité d'imagerie et est couplé avec un porte-échantillon oblique pour réduire les changements de faisceau d'électrons dus au mouvement angulaire de l'échantillon. 8100 fonctionnalités SE Imaging (SEI) avec trois objectifs différents pour différentes tailles d'échantillons. SEI intègre le balayage de faisceau d'électrons pour offrir une taille de faisceau qui a été optimisée à des fins d'imagerie. Le balayage aide à réduire les distorsions TEM causées par la géométrie de l'échantillon et la topographie de surface. HITACHI/REGULUS 8100 offre une fonction facultative pour l'alignement et la préhension des échantillons non transparents à l'aide d'un entraînement mécanique intégré. L'utilisateur peut ajuster le lecteur pour prélever et positionner des échantillons tout en effectuant des tâches d'imagerie. Un système logiciel intégré permet aux utilisateurs de programmer des étapes pour des opérations et des mesures automatiques de spécimens, ce qui rend le microscope idéal pour des études répétées. Pour fournir une imagerie de spécimen améliorée, le microscope offre également des capacités de modélisation du faisceau d'électrons. Cette caractéristique permet aux utilisateurs de définir des motifs de gravure précis afin de préparer des échantillons à des fins d'imagerie. En outre, le microscope peut également être utilisé conjointement avec la suite logicielle SEM optionnelle pour des mesures fiables de performance et l'enregistrement de paramètres de traitement. HITACHI 8100 est un microscope électronique à balayage de pointe qui offre une facilité d'utilisation, des performances fiables et précises, et des capacités d'imagerie de qualité supérieure. Ses caractéristiques avancées, y compris l'imagerie haute résolution, le niveau de détail élevé pour l'imagerie conceptuelle, le détecteur d'électrons rétrodiffusés à haute sensibilité, l'imagerie SE et la modélisation par faisceau d'électrons, en font un choix idéal pour des applications telles que la recherche en sciences des matériaux et l'ingénierie des appareils.
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