Occasion HITACHI RS-3000 #9026254 à vendre en France

HITACHI RS-3000
ID: 9026254
Taille de la plaquette: 8"
Review SEM, 8".
HITACHI RS-3000 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe conçu pour fournir aux utilisateurs un outil puissant pour l'imagerie et l'analyse de petites structures, particules et surfaces. L'équipement utilise un faisceau d'électrons haute résolution pour permettre des images topographiques d'échantillons à des grossissements allant jusqu'à 100000x. Le microscope est équipé d'une gamme de détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés indépendants pour permettre l'analyse la plus précise des structures des échantillons. HITACHI Système d'illumination structuré unique (SIL) améliore les images en permettant le balayage du faisceau d'électrons dans un motif pseudo-3D. Cela crée une gamme d'angles azimutaux autour d'un échantillon, créant des vues qui rendent visibles les structures cristallines, les limites des grains et les interfaces entre les phases. L'unité SIL a été spécialement conçue pour permettre l'imagerie au niveau presque atomique sur des échantillons étendus, ce qui rend possible l'imagerie de particules isolées ou de zones d'échantillons sans altération de l'échantillon. Le HITACHI RS 3000 dispose également d'un spectromètre de masse ionique secondaire embarqué (TOF-SIMS) pour la caractérisation de surface. Le TOF-SIMS permet une véritable cartographie ionique 3D des surfaces avec une résolution sous-nanométrique, permettant aux utilisateurs d'obtenir des informations détaillées sur la composition chimique des surfaces d'échantillons. La machine comprend une gamme de fonctions d'automatisation puissantes, ce qui en fait un choix idéal pour les laboratoires de R&D sophistiqués et de nombreuses applications industrielles. L'outil automatisé élimine la fatigue des utilisateurs tout en simplifiant le processus de collecte des données. En outre, l'écran de contrôleur intuitif permet de contrôler facilement le SEM et d'accéder aux fonctionnalités avancées. RS-3000 Scanning Electron Microscope offre un ensemble complet de caractéristiques pour l'imagerie, l'analyse et la caractérisation de petites particules, ce qui en fait un choix idéal pour l'analyse d'échantillons et la recherche. Ses capacités d'imagerie et de spectroscopie sophistiquées, combinées à ses fonctionnalités automatisées, en font un excellent choix pour la recherche scientifique et les applications industrielles.
Il n'y a pas encore de critiques