Occasion HITACHI RS-4000 #9389791 à vendre en France

HITACHI RS-4000
ID: 9389791
Defect Review Scanning Electron Microscope (DRSEM).
HITACHI RS-4000 Scanning Electron Microscope (SEM) est un microscope électronique à balayage haut de gamme conçu pour des applications scientifiques et industrielles. HITACHI RS 4000 fournit la plus haute résolution disponible et est capable de produire des images précises et détaillées du spécimen sur une variété d'échelles. Cet équipement avancé de microscopie utilise un canon à électrons à émission de champ pour générer un faisceau d'électrons à balayage généralisé qui est dirigé vers l'échantillon et peut être focalisé sur une échelle de grossissement. Comme le faisceau d'électrons interagit avec l'échantillon, des électrons secondaires sont libérés qui fournissent des informations qui sont ensuite collectées, traitées et affichées sous forme d'image. RS-4000 est équipé d'un certain nombre de caractéristiques qui permettent une variété de processus d'imagerie. Il est capable d'utiliser les fonctions SEI (Secondary Electron Imaging) et ESB (Backscattered Electron Imaging) afin d'obtenir des images détaillées et précises. Son mode X-C, qui est équipé d'un faisceau d'électrons à balayage rapide, augmente encore la résolution et la profondeur de l'imagerie disponible. De plus, le système peut être utilisé en mode TEM (Transmission Electron Microscopy), ce qui permet d'analyser des sections très minces de l'échantillon à des grossissements élevés. Il offre également une variété de résolutions allant de 0.2nm à 30nm, selon le type d'image requis. De plus, RS 4000 est équipé d'un processeur d'image numérique, d'un grand nombre de grossissements (x50.000) et d'une profondeur de champ étendue, qui peut être ajustée en temps réel pendant l'observation, pour s'assurer que la focalisation est optimale pour la visualisation. Enfin, HITACHI RS-4000 est une unité très fiable qui peut fonctionner dans diverses conditions environnementales de -5C à 60C, avec une plage d'humidité de 15 % à 70 %. Il offre également un balayage amélioré du faisceau d'ions pour l'analyse non destructive des échantillons, améliorant encore la polyvalence de cette machine SEM haut de gamme.
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