Occasion HITACHI S-2300 #9080004 à vendre en France

HITACHI S-2300 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé dans divers domaines pour l'imagerie et l'analyse microscopiques. Le SEM est un outil analytique capable de sonder et de caractériser la surface des échantillons jusqu'à l'échelle du nanomètre. Grâce à ce microscope, des informations compositionnelles, morphologiques et structurelles peuvent être obtenues à partir de divers matériaux. S-2300 possède des caractéristiques polyvalentes clé pour l'imagerie SEM haute résolution. Il fonctionne sur un canon thermionique à émission de champ (FEG) qui fournit un signal de haute qualité avec une stabilité thermique accrue et un courant de stabilité plus élevé. Son système de détection Everhigh™ est capable de détecter à la fois les électrons rétrodiffusés et les électrons secondaires. Ce détecteur d'électrons est équipé d'un système d'alignement de spot-on qui assure un positionnement précis du faisceau en surveillant la position et le courant du faisceau à l'aide d'un spectromètre de longueur d'onde pour déterminer la bonne position du faisceau. De plus, HITACHI S-2300 possède une fonction d'inclinaison de scène qui permet la navigation à travers des échantillons tridimensionnels. Cela aide à révéler des caractéristiques fines qui peuvent être difficiles à visualiser avec l'imagerie conventionnelle. Il réduit également le besoin d'étapes supplémentaires ou de rotations d'échantillons qui ont tendance à être longues ou difficiles. D'autres caractéristiques uniques de S-2300 incluent son système d'observation sous vide (VVS), qui permet l'observation d'échantillons en temps réel dans la chambre SEM. Cela aide à réduire le temps de préparation qui est souvent requis avec l'imagerie SEM. Il dispose également d'une chambre de visualisation des vibrations ultra-basse conçue pour minimiser les interférences des perturbations mécaniques et environnementales pour une imagerie et une analyse précises. Le microscope électronique à balayage HITACHI S-2300 est un outil extrêmement puissant pour l'imagerie et l'analyse d'une variété d'échantillons. Sa combinaison de signaux de haute qualité, de détecteurs d'électrons améliorés, d'imagerie tridimensionnelle et de capacités d'observation en temps réel en font un choix idéal pour les chercheurs dans de nombreux domaines.