Occasion HITACHI S-2380N #293755140 à vendre en France

HITACHI S-2380N est un microscope électronique à balayage (SEM) produit par HITACHI High Technologies Corporation. Il est principalement utilisé dans les domaines de la science des matériaux, des sciences de la vie, des semi-conducteurs, de la lithographie des faisceaux d'électrons, de la métrologie et de l'inspection industrielle. S-2380N comporte une colonne d'électrons à balayage composée d'un canon à électrons, de composants de colonne comprenant des lentilles de condenseur, d'un objectif et d'un détecteur d'électrons secondaire (SE). Le canon à électrons est capable de produire des faisceaux d'électrons thermiques élevés à une large plage de courant d'accélération, jusqu'à un courant maximum de 250 nA avec ses gammes d'énergie de 5 à 30 keV. Il a la capacité d'imiter un échantillon avec une résolution de 2 nm de diamètre en mode électronique rétrodiffuseur (ESB) tout en ayant une taille de faisceau primaire de 5 nm et une résolution d'altitude de 1 nm en mode imagerie haute résolution (HRIM). HITACHI S-2380N dispose d'un système à vide élevé avec une pression de base de 3x10-6 Pa. Un mode à vide scellé permet l'observation dans des conditions allant de 0,1 à 10 Pa. S-2380N est également équipé d'une variété de capacités d'imagerie et d'analyse conçues pour fournir des informations quantitatives et qualitatives sur la morphologie des échantillons. Il s'agit notamment de l'imagerie électronique secondaire (SEI), de l'imagerie électronique rétrodiffusée (BEI), de l'imagerie électronique rétrodiffusée à haute résolution (ESB-HRIM), de l'imagerie de contraste par canalisation électronique rétrodiffusée (C-CDI) et de la spectroscopie X dispersive de l'énergie. Le système d'imagerie HITACHI S-2380N s'intègre pleinement aux capacités d'imagerie et d'analyse, en contrôlant la position et l'angle d'observation, en ouvrant et en fermant l'ouverture de l'objectif, en corrigeant les désalignements mineurs, en enregistrant les images analogiques et en initiant les expositions aux électrons. En ce qui concerne l'automatisation, S-2380N dispose de plusieurs fonctions pour aider au fonctionnement efficace. Il peut mémoriser jusqu'à dix conditions pour l'étage d'échantillonnage automatisé, en outre, il dispose d'un bouton AutoLens qui contrôle la tension d'accélération et le courant du faisceau d'électrons de façon synchrone. De plus, sa fonction BatchScan peut fonctionner en séquences automatiques, manipulant les paramètres préprogrammés et les conditions de numérisation des échantillons. HITACHI S-2380N offre une large gamme de fonctionnalités conçues pour faciliter le fonctionnement efficace du microscope électronique. Il est conçu pour permettre aux utilisateurs d'explorer leurs échantillons avec exactitude et confiance, leur permettant d'obtenir les informations les plus pertinentes pour leurs recherches et analyses. La combinaison de ses traits rend S-2380N un choix idéal pour la science matérielle, la science de la vie, le semi-conducteur, la lithographie de faisceau d'électrons, la métrologie et l'inspection industrielle.