Occasion HITACHI S-2400 #9080006 à vendre en France

HITACHI S-2400
ID: 9080006
Scanning electron microscopes (SEM).
HITACHI S-2400 Scanning Electron Microscope (SEM) est un système d'imagerie analytique haute performance qui permet l'observation et l'analyse à haute résolution d'objets nanométriques. Il est équipé d'une variété de fonctionnalités et de capacités, y compris le fonctionnement à grande vitesse et l'analyse 3D précise. S-2400 est un microscope électronique à balayage environnemental, c'est-à-dire conçu pour mesurer avec précision les échantillons soumis à certaines conditions environnementales, telles que la température et l'humidité. Il a un débit élevé, capable de scanner un échantillon à une vitesse allant jusqu'à 50 images par seconde. En outre, il dispose d'un canon d'émission de champ à deux étages, pour améliorer la stabilité du faisceau d'électrons lors de l'acquisition d'images. HITACHI S-2400 possède plusieurs modes d'imagerie, dont un mode de champ lumineux standard, un mode stéréomicroscopique 3D, un mode de microanalyse aux rayons X et un mode d'imagerie par rétrodiffusion d'électrons (ESB). Le mode de champ lumineux est utilisé pour agrandir considérablement une image à une très haute résolution. Le mode stéréomicroscope 3D est idéal pour analyser les détails fins d'un échantillon à haute profondeur. Le mode de microanalyse aux rayons X peut être utilisé pour analyser des éléments spécifiques d'un échantillon, et le mode ESB permet de détecter quels éléments et/ou molécules sont présents dans un échantillon. S-2400 dispose également d'une chambre d'environnement basse dépression sélectionnable qui peut améliorer la résolution de l'image sous pression réduite. Cela permet d'observer des échantillons fragiles sans aucun dommage. La chambre basse dépression peut être chargée et déchargée rapidement, ce qui rend le temps d'acquisition de l'image plus rapide et plus efficace. HITACHI S-2400 peut être intégré avec une gamme d'accessoires pour améliorer ses capacités. Cela comprend les dispositifs semi-conducteurs, tels que les étages X-Y, les porte-échantillons et divers systèmes de vide. Cela permet une large gamme de fonctions, telles que le balayage sous vide, l'imagerie à faible angle, la chambre d'environnement pour l'analyse à haute température, et des capacités d'imagerie supplémentaires. S-2400 combine une gamme de caractéristiques et de capacités pour permettre aux chercheurs et aux scientifiques d'examiner une variété d'échantillons nanométriques, biologiques et de matériaux avec une résolution et une précision améliorées. Sa chambre d'environnement basse dépression sélectionnable, l'étendue des modes d'imagerie et une suite d'accessoires lui permettent de s'adapter à un large éventail d'applications.
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