Occasion HITACHI S-2460N #293767583 à vendre en France

ID: 293767583
Scanning Electron Microscope (SEM) (2) Pallets.
HITACHI S-2460N Scanning Electron Microscope (SEM) est un appareil utilisé pour l'analyse de matériaux sophistiqués. Il facilite l'observation visuelle et l'analyse de spécimens physiques à des grossissements très élevés. Cela permet aux chercheurs d'étudier les microstructures internes et les propriétés chimiques des matériaux et des échantillons. Au cœur de S-2460N se trouve un équipement sous vide associé à une gamme complexe de composants électroniques, optiques et mécaniques. Le système de vide permet de maintenir la stabilité environnementale de l'échantillon à observer. Lorsque l'unité est utilisée, les électrons sont émis du canon à électrons et traversent la machine à vide et affectent un matériau cible. Les électrons secondaires, les électrons rétrodiffusés et les rayons X convertis à partir de l'échantillon sont ensuite collectés et traités par les détecteurs ou l'outil de traitement d'image et affichés. HITACHI S-2460N est capable de produire des grossissements entre 10.000x et 100.000x. Ce niveau de grossissement est rendu possible grâce à une combinaison de tension d'accélération du faisceau variable et de distances de travail variables. Cela permet de tenir compte des différences d'observation dues aux différences d'épaisseur et de matière des échantillons qui peuvent affecter la réalisation des grands agrandissements. En outre, l'actif utilise des systèmes de traitement d'images numériques et un certain nombre de technologies d'imagerie numérique qui améliorent la qualité et l'uniformité de l'image. S-2460N offre un large éventail d'options matérielles et logicielles supplémentaires qui améliorent les performances. Il s'agit notamment d'un étage de dispositif rotatif (pouvant tourner jusqu'à 60 ° au maximum) ainsi que d'un modèle de chauffage par échantillon en option. L'équipement de chauffage de l'échantillon assure le maintien des propriétés inhérentes à un échantillon sur une large gamme de températures et permet l'observation de changements moléculaires. HITACHI S-2460N fournit au chercheur un excellent outil pour un large éventail d'applications. Il s'agit notamment de l'analyse des semi-conducteurs et des dispositifs, de la recherche en sciences des matériaux, des études scientifiques, de la mesure et de l'analyse industrielles, du développement et du contrôle de la qualité. Le dispositif est également très adapté à l'analyse des défaillances, car il peut détecter des défauts structurels extrêmement petits qui sont souvent invisibles même à l'œil nu. Dans l'ensemble, S-2460N est un microscope électronique à balayage sophistiqué et puissant qui offre aux chercheurs un instrument fiable et à haut rendement pour l'analyse des matériaux et des spécimens et pour l'observation visuelle des échantillons. Sa combinaison impressionnante d'agrandissements exceptionnels, d'imagerie numérique et de scène rotative, de chauffage d'échantillons et d'autres options matérielles complémentaires en font un élément incontournable de toute installation de laboratoire ou d'essai.
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