Occasion HITACHI S-2600N #293626644 à vendre en France

HITACHI S-2600N Scanning Electron Microscope (SEM) est un excellent outil pour la micro-imagerie et l'analyse haute résolution. Le microscope fournit une excellente plage de grossissement de 7x à 600.000x, et une profondeur de champ exceptionnelle pour l'imagerie. Le faisceau d'électrons à balayage est capable de générer des images d'électrons secondaires qui fournissent un excellent détail de surface. L'échantillon peut aussi être exactement localisé et centré dans le champ de vue et les capacités de détection de bord de S-2600N garantissent des conditions reflétantes fermes. HITACHI S-2600N a une puissante plage de tension d'accélération comprise entre 0,3 et 10 kV et une excellente taille de spot de moins de 5 nanomètres. Avec une fonction de contrôle automatique de la focale au microscope, les utilisateurs peuvent facilement ajuster la focale et la position de l'échantillon. Les échantillons peuvent être rendus en mode lumineux et sombre pour un excellent contraste dans les images affichées. S-2600N a une gamme de nombreuses capacités d'imagerie et d'analyse, y compris la diffraction électronique à balayage (SED) pour l'analyse cristallographique. L'utilisateur peut également choisir parmi une variété de détecteurs pour optimiser les données de structure et de composition de l'échantillon. La gamme de détection comprend les électrons rétrodiffusés, les électrons secondaires, les électrons Auger et les rayons X. La chambre du spécimen peut accueillir jusqu'à trois étapes différentes pour l'imagerie et l'analyse. Une auto-étape permet de profiter pleinement des agrandissements disponibles, avec des fonctionnalités qui simplifient le processus de positionnement et d'alignement des échantillons dans la chambre. Le microscope est également livré avec une variété de détecteurs et de supports, permettant l'importation rapide et facile d'échantillons. Enfin, HITACHI S-2600N dispose de capacités exceptionnelles de contrôle environnemental et de vide, permettant aux utilisateurs d'examiner des spécimens en état de pointe sans se préoccuper des interférences atmosphériques. Le système de vide peut atteindre des pressions aussi basses que 0,10 Pa, et la chambre d'environnement est régulée en température et pH pour maintenir la plus haute qualité des échantillons. La combinaison de toutes ces fonctionnalités fait de S-2600N un instrument idéal pour l'imagerie et l'analyse SEM.