Occasion HITACHI S-3000H #293596949 à vendre en France
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ID: 293596949
Style Vintage: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten gun
SE Detector: High
EDS Type: LN2
BSE Detector
Magnification range: 300.000x
Operating system:
SEM: Windows NT
EDS : Windows XP
2001 vintage.
HITACHI S-3000H est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour améliorer les performances et l'imagerie ultra haute résolution des matériaux au niveau du nanomètre. Il est spécialement conçu pour les applications de circuits semi-conducteurs et haute densité et fournit une imagerie optimisée pour une variété d'échantillons. HITACHI S 3000 H dispose d'un filtre à énergie dans la colonne et d'un équipement d'imagerie hybride qui offre l'imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée. Ce système est capable de capturer des images à très haute résolution de la surface et du sous-sol d'un matériau qui peut être utilisé pour diverses applications incluant la recherche électrique, électronique, chimique, métallurgique et biomédicale. S-3000H se compose de quatre composants principaux : une colonne électronique à balayage, une lentille de focalisation, un filtre d'énergie dans la colonne et un détecteur. La colonne d'électrons à balayage utilise la chambre d'échantillonnage aluminisée et dispose d'un bloc électronique incident à angle élevé pour permettre au dispositif de scanner avec précision la surface de l'échantillon. De plus, cette machine est équipée d'un grand champ de vision variable permettant une imagerie rapide et une forme de faisceau très stable. La lentille de focalisation est optimisée pour une faible aberration et est conçue pour réduire les aberrations chromatiques et sphériques. Cela permet de produire des images à haute résolution avec un minimum de distorsion. Le filtre d'énergie en colonne profite de l'énergie électronique utilisée pour balayer l'échantillon. Cette énergie peut être contrôlée pour analyser différents modes de fonctionnement sur la surface de l'échantillon tels que l'analyse spectroscopique par rayons X dispersive d'énergie (EDX) et l'imagerie électronique secondaire. Ces modes permettent à S 3000 H de visualiser et d'examiner la composition des différents composants ainsi que la microstructure de l'échantillon avec une grande précision. De plus, le détecteur est capable de détecter des électrons rétrodiffusés de la surface de l'échantillon et d'en produire des images de qualité. HITACHI S-3000H est également équipé d'un outil optique très réglable qui ajoute à sa précision et à sa résolution. Cet atout optique permet de régler la taille des taches de 1000 nm à 10 μ m et la profondeur de champ de 5 nm à 15 μ m. De plus, le dispositif peut également atteindre une ouverture numérique allant jusqu'à 0,6, ce qui augmente encore la précision des systèmes d'imagerie au niveau des nanomètres. La combinaison du filtre d'énergie en colonne, du modèle optique réglable et du détecteur avancé fournit à HITACHI S 3000 H un niveau de résolution amélioré qui lui permet de produire des images avec une résolution allant jusqu'à un nanomètre. En conclusion, S-3000H microscope électronique à balayage offre un niveau d'imagerie très avancé qui est idéal pour une variété de recherche et d'analyse des caractéristiques des matériaux à l'échelle du nanomètre. Son filtre d'énergie en colonne et son équipement optique réglable fournissent à S 3000 H une résolution pouvant atteindre un nanomètre et le rendent idéal pour l'imagerie et l'analyse détaillées des caractéristiques de surface et de sous-surface dans une variété d'applications.
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