Occasion HITACHI S-3000H #293597903 à vendre en France
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ID: 293597903
Style Vintage: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten gun
EDS Type: LN2
SE Detector: High
Magnification range: 300.000x
Operating system:
SEM: Windows XP
EDS: Windows XP
2010 vintage.
HITACHI S-3000H Scanning Electron Microscope est un appareil d'imagerie grand champ à haute résolution avec une optique puissante, équipé de systèmes avancés de détection d'électrons. Avec la combinaison d'une technologie d'imagerie électronique avancée et d'une optique puissante, HITACHI S 3000 H est conçu pour fournir une imagerie détaillée ultra haute résolution des échantillons en un temps extrêmement court. S-3000H dispose d'une colonne électronique à haute résolution d'émission de champ avec une tension d'accélération allant de 0,5 keV à 30 keV. Le détecteur haute résolution est capable d'augmenter la sensibilité de détection et de réduire le bruit d'image. L'étape de prélèvement peut être scannée de 10 x à 90 x grossissement. Un système intégré d'alignement de faisceau fournit un angle de convergence de faisceau réglable, assurant une surface d'échantillon idéale pour l'imagerie. Le système à étapes avancées permet un balayage rapide des échantillons en mode direct, ce qui assure une irradiation uniforme sur l'échantillon en moins de temps que les méthodes classiques. Cela réduit les effets de vibration et assure une bonne stabilité et uniformité lors du balayage. De plus, sa grande ouverture permet à la fois l'imagerie d'objet à objec t et d'échantillon à fond. La puissante optique de S 3000 H permet une imagerie claire de particules aussi petites que 0,1 µm, ce qui en fait un instrument idéal pour étudier divers domaines de la science des matériaux tels que les microstructures à base de matériaux, les composants d'un alliage et les différentes phases d'un matériau. En outre, HITACHI S-3000H offre un grand avantage dans l'analyse des particules, la contamination et l'analyse des échecs. Dans l'ensemble, HITACHI S 3000 H Scanning Electron Microscope est l'outil parfait pour l'imagerie haute résolution et l'analyse microscopique. Il offre une qualité d'imagerie supérieure, une résolution d'image et une sensibilité accrues, et de faibles exigences de maintenance. Équipé de systèmes avancés de détection d'électrons, il permet une étude détaillée d'une grande variété d'échantillons d'une manière plus rapide et plus facile.
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