Occasion HITACHI S-3000H #293645473 à vendre en France

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ID: 293645473
Style Vintage: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM) 2007 vintage.
HITACHI S-3000H est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour fournir une imagerie haute résolution et l'analyse d'un large éventail de types d'échantillons, des spécimens biologiques aux matériaux fins. HITACHI S 3000 H dispose d'un canon à émission de champ intégré (FEG) avec une lentille maganine, permettant une forte profondeur de focalisation et une imagerie haute résolution. Il est équipé d'un détecteur EDS haute résolution fermé et d'un détecteur EBSD optionnel pour l'analyse de la structure cristalline et de l'orientation cristallographique au niveau atomique. Le microscope est équipé de fonctions de piquage d'images et de cycle vidéo contrôlées par ordinateur, permettant jusqu'à 600 km de grossissement et de résolution combinés. S-3000H utilise également un détecteur MULTEC pour l'imagerie et l'analyse automatisée des particules/cristaux, permettant l'imagerie à grande vitesse et la caractérisation de petites régions de grands champs de vision. Cette fonctionnalité permet aux chercheurs de cartographier des détails subtils de surface avec une résolution nanométrique et de produire de belles images tridimensionnelles. Les composants électroniques et les logiciels puissants de S 3000 H permettent de contrôler avec précision les paramètres d'imagerie tels que la tension d'accélération, la géométrie du faisceau, le courant et la résolution. Il offre également des fonctionnalités supplémentaires, telles qu'un amplificateur de grossissement, des étalonnages et des modes d'imagerie spécialisés. HITACHI S-3000H est livré avec un système d'autofocus laser intégré qui garantit une focalisation fiable et automatique sur chaque région de l'échantillon. Il offre un choix d'objectifs de longue distance de travail, offrant plus de flexibilité lorsque vous travaillez avec différentes tailles d'échantillons. En outre, le système est capable d'imagerie en temps réel à distance et de commande d'étage, avec une précision estimée jusqu'à 200 nm sur une plage de course allant jusqu'à 4 500 pixels. HITACHI S 3000 H peut être configuré avec un logiciel XE Crystal ­ Analysis optionnel pour la caractérisation automatisée des cristaux, ainsi que pour la cartographie et la classification automatisées des particules et des cristaux. Cette fonction peut réduire considérablement le temps nécessaire à l'analyse des échantillons et à la préparation des rapports. En général, S-3000H le balayage du microscope électronique est un choix idéal pour les chercheurs qui exigent le fait de refléter à haute résolution et l'analyse d'échantillons multiples. Sa combinaison de fonctionnalités avancées et de technologie de pointe offre une flexibilité maximale et la plus grande précision lors de la visualisation et de l'analyse d'un large éventail de types d'échantillons.
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