Occasion HITACHI S-3000H #9236136 à vendre en France
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ID: 9236136
Style Vintage: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM)
Secondary electron image resolution: 3.5 nm High vacuum mode
Reflected electron image resolution: 4.5 nm Low vacuum mode
Magnification: 15x~300,000x (65 Stages)
Electron optical system:
Filament:
Pre-center type
Tungsten hairpin
Gun bias with fixed bias
Gun alignment: Electromagnetic two-stage deflection
Condenser lens: Electromagnetic two-stage
Objective lens: Super conical lens
Objective lens diaphragm: 4 Holes movable
Astigmatism correction: Electromagnetic 8 poles
Image shift: ±20um (W.D: 15mm)
Accelerating voltage:
0.3~30kV (1171 Stages)
0.3~9.99kV (10V Step)
10~30kV (0.1kV Step)
Illumination current: 1012~10-7A
2006 vintage.
HITACHI S-3000H est un microscope électronique à balayage sophistiqué (SEM) largement utilisé dans la recherche sur les matériaux. Ce microscope est un type d'émission de champ, c'est-à-dire qu'il utilise un faisceau d'électrons généré par émission de champ d'un émetteur de tungstène pour former une image. C'est un SEM haute performance capable d'un haut degré de résolution et de grossissement. HITACHI S 3000 H est équipé d'une grande chambre qui permet une large gamme d'analyses. La chambre elle-même a une taille maximale de 150 mm de diamètre et 200 mm de profondeur, permettant un grand espace de travail pour les échantillons à scanner. Le microscope est conçu pour pouvoir balayer les surfaces à des résolutions allant jusqu'à 30 nm avec des grossissements allant de 8x à 250.000x. Il est complété par une étape automatisée permettant aux utilisateurs de produire des images à haute résolution extrêmement rapidement. S-3000H a également une faible plage de tension d'accélération qui permet une large gamme de capacités fonctionnelles. Il s'agit notamment d'explorer la structure de surface et la composition élémentaire, de sonder la surface d'un échantillon avec divers faisceaux tels que les rayons X, et l'imagerie SEM basse tension. Pour accroître l'efficacité du processus d'imagerie, le S 3000 H est équipé d'un certain nombre de technologies avancées telles que la microscopie électronique à pression variable (VPE) et la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM). Ces technologies contribuent à améliorer la qualité des images produites par le microscope permettant une résolution plus élevée. En termes de sécurité, HITACHI S-3000H est conçu avec un équipement d'interception qui minimise les risques liés au fonctionnement d'un instrument aussi puissant. Le système détecte et ferme le canon à électrons si l'un des paramètres de sécurité s'écarte des valeurs prédéterminées. Pour s'assurer que les données sont stockées et gardées en sécurité, il dispose d'une unité de stockage interne de données qui est unique à HITACHI S 3000 H. Il existe un ordinateur de bord qui peut stocker jusqu'à 1 TB de données avec des options de sauvegarde de données sur des dispositifs de stockage externes ou un serveur dédié. Global S-3000H est un microscope électronique à balayage sophistiqué qui est conçu avec de puissantes capacités d'imagerie. Il dispose d'une grande chambre de travail, permettant une large gamme d'analyses d'échantillons et une faible plage de tension d'accélération adaptée à différents types d'imagerie. Il est équipé d'une machine d'interception pour la sécurité et des capacités de stockage de données fiables, ce qui en fait un choix idéal pour la recherche de matériaux.
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