Occasion HITACHI S-3000H #9254229 à vendre en France

HITACHI S-3000H est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour obtenir des images amplifiées des structures micro et nanoscopiques de divers matériaux. Cet instrument fournit des capacités d'imagerie de 1,5 nm jusqu'à 120 000 fois l'agrandissement. HITACHI S 3000 H dispose d'une grande chambre qui est équipée d'électrons secondaires (SEM), qui a un détecteur de basse résolution kV pour la collecte d'images de haute qualité. Cet outil est également équipé d'un détecteur d'équipement haute résolution, permettant aux utilisateurs d'obtenir des images sur 1 à 12 mégapixels. S-3000H intègre un « mode facile » qui est un nouvel élément de son système, permettant aux utilisateurs SEM moins avancés d'obtenir facilement une image. Un « mode Focus » intégré a également été fourni pour la vision nocturne ou l'analyse de fonctionnalités très amplifiées. Afin d'aider à étendre la portée de l'analyse de l'échantillon, une unité de traitement automatique de l'échantillon est installée qui peut détecter le nombre de fentes, la hauteur et la position de l'étage de l'échantillon. S 3000 H fournit également l'alignement stéréo, et l'imagerie 3D. L'instrument est équipé d'une machine à vide ultra-haute et d'un détecteur à haute sensibilité pour s'assurer que tous les détails de l'échantillon testé sont imagés avec succès. L'instrument est isolé des vibrations, ce qui contribue à la clarté de l'image capturée. La surface de l'échantillon est balayée à la résolution appropriée par le faisceau d'électrons afin de constituer une image. Les caractéristiques supplémentaires de HITACHI S-3000H comprennent un automate et un détecteur de minéraux, qui aident tous deux à détecter et à identifier automatiquement les matériaux composant l'échantillon. Le détecteur de minéraux sert à améliorer ses capacités d'analyse minérale. Il comporte également un élément de détection dynamique de défauts de surface, tels que des fissures. En conclusion, HITACHI S 3000 H est un microscope électronique qui fournit des images amplifiées de structures micro et nano-scopiques de divers matériaux. Ses caractéristiques avancées en imagerie et en analyse minérale en ont fait un choix privilégié parmi les professionnels de la recherche dans de nombreux domaines.