Occasion HITACHI S-3000H #9309415 à vendre en France

HITACHI S-3000H est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des images haute résolution de spécimens à l'échelle nanométrique. Cet instrument utilise un faisceau focalisé d'électrons pour scanner la surface d'un spécimen afin de créer une image très détaillée. Ce SEM a été modélisé autour de la conception du populaire SEM, le S-3000N, et est hautement évolutif pour améliorer sa précision de balayage et sa résolution au besoin. Il dispose également d'une interface utilisateur intuitive qui rend les processus de microscopie électronique à balayage efficaces et simples. Ce SEM utilise un faisceau d'électrons de haute énergie pour interagir directement avec l'échantillon et générer une grande variété de signaux, tels que les électrons secondaires, les électrons rétrodiffusés et le spectre des rayons X. Cela aide à fournir des informations réalistes sur la composition que d'autres microscopes optiques ne peuvent détecter. HITACHI S 3000 H a également des vitesses d'imagerie élevées et peut être utilisé pour le balayage à haute et basse température. Les capacités de microanalyse du S-3000H le rendent idéal pour une grande variété d'applications, telles que la science des matériaux, la science médicale, la recherche et le développement, et l'analyse microscopique générale. Il peut être utilisé pour analyser la microstructure d'un échantillon, mesurer ses propriétés électriques et mécaniques et détecter des défauts dans ses couches superficielles. Ce SEM a une résolution maximale de 1 nm, de sorte que vous pouvez atteindre une image de haute précision sans avoir besoin d'augmenter la tension du faisceau, ce qui peut être très dommageable pour l'échantillon. En outre, ce microscope est équipé d'une fonction d'auto-focalisation qui ajuste le point focal au besoin, empêchant toute distorsion de l'image qui peut survenir en raison d'un désalignement. S 3000 H peut également être configuré pour fonctionner comme un système à pression variable. Cette caractéristique réduit le risque de charge en surface et augmente la performance d'imagerie du SEM lorsque la surface de l'échantillon est sensible, ou lorsque l'environnement de l'échantillon est variable. Enfin, HITACHI S-3000H est également équipé d'un filtre réducteur d'énergie, qui empêche les rayonnements ionisants nocifs de pénétrer dans l'environnement ou d'affecter les échantillons. Cela augmente la sécurité du fonctionnement de l'instrument et réduit l'impact environnemental de son utilisation.