Occasion HITACHI S-3000N #293668111 à vendre en France

HITACHI S-3000N est un microscope électronique à balayage (SEM) bien adapté à l'analyse générale des matériaux. Cet instrument est équipé d'un détecteur d'électrons secondaires de type SE (everhart-thornley) de haute performance, permettant des images d'une qualité et d'un détail exceptionnels. HITACHI S-3000 N est également équipé d'une colonne de faisceau d'électrons conçue pour fonctionner dans une large gamme de sorties de tension d'accélération, de 0,5 à 30 kV. Cette gamme permet aux chercheurs d'examiner une grande variété de matériaux, y compris des échantillons organiques et inorganiques. S 3000 N dispose également d'un détecteur d'électrons rétrodiffuseur (BSD) optionnel, permettant aux chercheurs d'étudier les caractéristiques de surface de différents spécimens. Cet équipement avancé d'optique électronique est capable de fournir de puissantes capacités de grossissement tout en conservant une excellente résolution d'image, permettant aux chercheurs de visualiser avec précision même de petits détails dans leurs spécimens. De plus, sa conception sophistiquée de la colonne électronique permet à l'utilisateur d'effectuer des réglages précis de la taille de la tache de faisceau, allant d'une petite tache de 1,7 nm à 30 nm, ce qui permet d'examiner en détail une grande variété d'échantillons. HITACHI S 3000 N dispose également d'une large gamme de chambres d'échantillons et d'accessoires, tels qu'un talon d'échantillon standard, un basculement d'échantillon, un bracker d'échantillon et un étage d'échantillon. La chambre d'échantillonnage intégrée est conçue pour faciliter le chargement et la manipulation d'une variété d'échantillons, avec une automatisation améliorée des échantillons qui donne des résultats plus cohérents et plus précis. De plus, la chambre est équipée de deux porte-échantillons de grand alésage qui permettent d'installer simultanément plusieurs porte-échantillons. S-3000N est également conçu pour maintenir une excellente précision de mesure à l'aide d'un système de motorisation linéaire pour le contrôle d'étage XY avec une augmentation minimale de quelques nanomètres. En outre, l'unité est équipée d'un canon à émission de champ froid (FEG) capable de produire un champ de vision avec une résolution d'image impressionnante même dans la région à faible kV. S-3000 N peut obtenir une bonne stabilité de focalisation sur les échantillons, avec une machine de gestion de stabilité de focalisation qui permet un environnement d'imagerie d'échantillons très stable. Cet outil suit et compense avec précision les changements de position de l'échantillon, ce qui donne un grand nombre d'images reproductibles sans nécessiter de réglages fréquents. Les aspects électroniques et logiciels de HITACHI S-3000N méritent également d'être mentionnés. Non seulement le logiciel fournit une interface utilisateur intuitive et un large éventail d'outils d'analyse, mais il est également capable d'acquérir des données grâce à des interfaces USB/RS232 et est entièrement compatible avec les systèmes PC. Dans l'ensemble, HITACHI S-3000 N est un excellent choix pour les chercheurs à la recherche d'un SEM de haute qualité qui offre un large éventail de fonctionnalités et de capacités.