Occasion HITACHI S-3000N #293755548 à vendre en France

ID: 293755548
Style Vintage: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM) SED BSE Detector No EDS PC 2006 vintage.
HITACHI S-3000N est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour produire des images de petits spécimens ou des caractéristiques à des grossissements élevés. La technologie SEM utilise des faisceaux d'électrons balayés à travers l'échantillon et détecte les électrons secondaires, les électrons rétrodiffusés et les électrons Auger qui sont émis lorsque le faisceau d'électrons interagit avec les atomes de l'échantillon. HITACHI S-3000 N utilise un détecteur de haute performance dans les lentilles pour fournir une imagerie et une résolution supérieures. On peut régler pour le faisceau d'électrons une tension d'accélération allant jusqu'à 30kV et un courant de faisceau allant de 0,2 à 25 μ A. Ceci fournit d'excellentes propriétés de résolution et d'imagerie pour une variété de types d'échantillons. Le microscope est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) pour générer un faisceau d'électrons à haut courant qui est ensuite focalisé par une lentille électromagnétique sur la surface de l'échantillon. Le porte-échantillon est conçu pour effectuer le balayage sous différentes formes. Le porte-échantillon est un équipement de déviation électrostatique qui permet un balayage rapide de grandes surfaces à des grossissements élevés. Les systèmes optiques électroniques sont précisément conçus pour l'imagerie, le refroidissement et de faibles propriétés de distorsion. S 3000 N dispose également d'un système auto-focus qui assure la précision de l'imagerie sur une large gamme de grossissements. L'unité de traitement d'image numérique permet d'éclairer et de contraste les images SEM et la caméra numérique haute résolution permet la capture des images et leur inspection ultérieure. Le microscope est équipé du dernier logiciel d'imagerie, intuitif et convivial, ce qui en fait un outil compatible pour les applications d'imagerie de laboratoire. Le logiciel fournit une solution de visualisation totale, permettant le traitement, l'analyse, la visualisation et la gestion des images numériques. S-3000 N est conçu pour une grande variété d'applications, y compris la caractérisation des matériaux, le contrôle de la qualité, l'inspection et l'analyse des échantillons. La machine sophistiquée peut accueillir de nombreux types d'échantillons, tels que les métaux, la céramique, les matériaux lithographiques et d'autres matériaux non conducteurs. La polyvalence et les performances de l'outil en font un outil idéal pour les applications industrielles et de laboratoire.
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