Occasion HITACHI S-3000N #293814952 à vendre en France

HITACHI S-3000N
ID: 293814952
Scanning Electron Microscope (SEM).
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-3000N est un outil puissant pour l'analyse d'une gamme de matériaux allant du nano aux régimes macro. Il combine la puissance d'un microscope électronique à balayage (SEM) avec la polyvalence d'un microscope électronique à balayage à transmission (TEM) en un boîtier complet et portable. Le microscope est équipé d'un étage motorisé à 3 axes intégré, d'un canon à émission de champ à haute résolution, d'un détecteur d'électrons à haute sensibilité et d'un système automatisé d'acquisition d'images. Cette combinaison de caractéristiques permet un large éventail de techniques analytiques et de capacités d'imagerie. HITACHI S-3000 N a une direction unique, d'axe vertical, ce qui lui permet d'être prédéfini à différents angles objectifs avec précision et facilité. Les étages d'inclinaison et de rotation sont équipés de capacités de balayage Zenith et Axial, qui peuvent être utilisées pour balayer rapidement de grands échantillons plats ou de petites rainures profondes et des matériaux poreux. La tension d'accélération variable produit une gamme de concentrations et d'énergies d'électrons, permettant aux utilisateurs d'observer et d'analyser différents aspects de la structure du matériau avec une précision détaillée. S 3000 N est équipé d'un appareil photo numérique de détection directe, offrant une résolution d'image jusqu'à 10 000 X et des cadences de trame jusqu'à 10 fps continues à pleine taille. La caméra peut être utilisée pour une variété d'applications, y compris l'imagerie pour l'analyse de défauts et topographie, le suivi de mouvement 3D, et la mosaïque d'images. Le logiciel inclus peut être utilisé pour effectuer des fonctions avancées de tracé statistique, automatisé et 3D pour observer la morphologie des échantillons. S-3000 N est équipé d'une seule source de dépôt à basse température (LTD), permettant aux utilisateurs de déposer des couches uniformes de matériau in situ. Cette source peut être utilisée pour appliquer des revêtements avec des indices de réfraction variables, et le chauffage différentiel et le refroidissement de régions sélectionnées sur l'échantillon, permettant une analyse plus précise et détaillée des matériaux. Le microscope dispose également de deux entrées de gaz pour la micro-exposition au gaz, ce qui le rend idéal pour la recherche in situ avancée. Le HITACHI S 3000 N est équipé d'un chariot mobile, d'un mécanisme de refroidissement par air et d'une hotte à fumées en option, ce qui le rend facile à transporter et à installer dans des laboratoires avec un espace limité. L'électronique intégrée, l'optique et les modules de logiciel rendent S-3000N un outil inestimable pour l'analyse de matériel à nano - et la micro-balance.
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