Occasion HITACHI S-3000N #293820636 à vendre en France

ID: 293820636
Scanning Electron Microscope (SEM) Silicon Drift Detector (SDD) Secondary electron (SE) image: 3.0–3.5 nm at 25–30 kV in high vacuum (HV) mode Backscattered electron (BSE) image: 5.0 nm at 25 kV in variable pressure (VP) mode Some sources note: ~15 nm SE at 3 kV (HV) or 5 nm overall in VP mode at 25 kV Accelerating voltage: 0.3–30 kV Magnification: 15× to 300,000× (normal mode, ~65 steps); low-mag mode down to 5× (75 steps) Variable Pressure Range: 1 – 270 Pa (low vacuum/VP mode); high vacuum ultimate ~1.5 × 10⁻³ Pa Maximum Specimen Size: 150–200 mm diameter; height typically up to ~20–40 mm Working Distance (WD): Variable; X-ray/EDX optimized at 15 mm Detectors: Secondary electron detector (SE, high vacuum only) Solid-state Backscattered Electron Detector (BSE, four-quadrant for compositional, topographic, or 3D modes; usable in HV and VP) Absorbed current detector Specimen Stage: Common: X = 100 mm, Y = 50 mm, Z = 5–40 mm; tilt 0–60°; 360° rotation Other options include super-eucentric, large eucentric, or 5-axis stages with different ranges (e.g., ±90° tilt possible on some) Image Processing & Display: Frame memory: 640×480 (display), 1280×960 (high-res), optional 2560×1920 Features: Auto brightness/contrast (ABC), auto focus/stigmator, image integration, gamma control, recursive filtering (2) Pumps Chiller Spare manual stage Motorized stage EDAX Si(Li) detector EDAX Falcon compute EDAX Apollo EDS Genesis computer.
HITACHI S-3000N est un microscope électronique à balayage (SEM) avec des capacités remarquables pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'échantillons à l'échelle nanométrique. Utilisant un équipement avancé d'optique électronique, HITACHI S-3000 N produit des images de résolution spatiale supérieure et d'excellent contraste, avec des vitesses de balayage rapides. S 3000 N utilise une colonne SEM double unique qui fournit l'ultime en flexibilité quand il s'agit d'augmenter la distance de travail, la tension de fonctionnement, les champs de vue et de grossissement. La grande distance de travail du microscope de 25mm permet d'analyser des échantillons plus épais avec une plus grande stabilité, tandis que le système d'optique électronique à haute résolution capture des détails avec une clarté étonnante, ce qui le rend adapté à l'imagerie d'une gamme d'objets allant des structures irrégulières aux caractéristiques ultra-fines. HITACHI S 3000 N est équipé d'une unité de contrôle spectral avancée qui identifie avec précision les spécimens, permettant une analyse précise et des paramètres précis pour l'inspection des échantillons. En outre, la machine est capable de contrôler le courant électronique de balayage de 0.3nA à 1000nA, permettant l'analyse de différents matériaux ayant des caractéristiques de matériaux différentes. Lorsqu'il s'agit d'analyser des spécimens, S-3000 N offre deux fonctionnalités supplémentaires : EDX et EBSD. Ces fonctions permettent aux utilisateurs de détecter des éléments et de mesurer les orientations cristallographiques sur des matériaux tels que les métaux, la céramique et les semi-conducteurs. Équipé d'un remarquable détecteur multicanal avec des capacités de comptage à grande vitesse, S-3000N peut également effectuer la meilleure cartographie élémentaire en classe avec des vitesses d'imagerie rapides. HITACHI S-3000N offre une ergonomie utilisateur simplifiée, avec une interface utilisateur complète permettant des réglages et un fonctionnement faciles. Pour les utilisateurs évolués, le progiciel spécialement conçu pour les utilisateurs, permet un fonctionnement à distance ainsi qu'un traitement facile des images. Pour les applications nécessitant un microscope électronique à balayage avec un haut niveau de performance et de flexibilité, HITACHI S-3000 N est le choix idéal. Avec son large éventail de capacités et ses excellentes qualités d'imagerie, il est un outil puissant pour caractériser avec succès de nombreux types de spécimens et explorer de nouvelles applications à l'échelle nanométrique.
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