Occasion HITACHI S-3000N #9156366 à vendre en France

HITACHI S-3000N est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui effectue une variété de tâches d'imagerie. Il est capable de scanner, d'imagerie et de manipuler des matériaux d'une taille aussi petite que 1,0 nm. Le canon à électrons du microscope produit un faisceau d'électrons de forte puissance qui est ensuite focalisé et balayé à travers l'échantillon pour générer une image virtuelle détaillée. L'échantillon est alors exposé au faisceau d'électrons qui interagit avec les électrons de l'échantillon et produit un signal détecté par un système d'imagerie numérique. HITACHI S-3000 N dispose d'un système de numérisation intégré qui lui permet d'avoir un temps d'acquisition et d'analyse court. Il dispose d'un processeur de signal numérique (DSP), qui travaille à côté d'un capteur d'image pour fournir des données d'image avec une résolution jusqu'à 0,3 nm. Cela permet à l'utilisateur d'images et d'analyser des fonctionnalités extrêmement petites qui sont difficiles à distinguer avec les SEM standard. S 3000 N a une large gamme de capacités pour caractériser les cristaux et les nanostructures. Ses fonctions d'analyse avancées permettent de caractériser la structure cristalline, la morphologie de surface et l'information de composition. Le SEM comprend un détecteur haute résolution (HR), qui offre une meilleure sensibilité électronique secondaire pour l'analyse de très petites caractéristiques. Le détecteur HR fournit également un contraste et une profondeur améliorés dans l'image, permettant aux utilisateurs d'identifier les caractéristiques cachées, telles que les fissures, les lacunes et les rayures. En plus de ses capacités d'imagerie, S-3000 N dispose de capacités de faisceau ionique focalisé (FIB). La technologie FIB permet à l'utilisateur de modifier et d'usiner une surface d'échantillon par l'écriture directe, la gravure et le dépôt d'ions. Cela leur permet de nettoyer, modifier et caractériser rapidement les caractéristiques fines de l'échantillon. L'outil FIB permet également à l'utilisateur d'analyser la composition spectrale et chimique de l'échantillon en utilisant la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS). S-3000N est également livré avec une variété d'étapes et de supports différents, ce qui permet à l'utilisateur de choisir une orientation appropriée et des conditions environnementales pour leur échantillon. Ces étages et supports comprennent des étages motorisés à trois axes (x, y et z), ainsi que des étages à basse dépression conçus pour maximiser l'efficacité du SEM, permettant à l'utilisateur d'acquérir rapidement de grandes surfaces. Dans l'ensemble, HITACHI S 3000 N est un microscope électronique à balayage avancé qui peut fournir des images détaillées de très petits objets et structures. Son grossissement élevé et son large éventail de fonctions d'analyse en font un choix idéal pour les scientifiques qui étudient et étudient le monde nano.