Occasion HITACHI S-3000N #9171724 à vendre en France

HITACHI S-3000N est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour un large éventail d'applications dans la recherche sur les semi-conducteurs et les matériaux. HITACHI S-3000 N intègre l'optique électronique de pointe, la technologie des détecteurs et les logiciels pour permettre l'imagerie haute résolution et la capacité d'analyse. Il dispose d'une colonne dotée d'une optique électronique de pointe et d'un générateur de balayage de haute précision à faible bruit, qui offre une capacité d'imagerie et d'analyse haute résolution pour des échantillons de grande taille jusqu'à 120 mm. Un étage variable est conçu pour permettre l'imagerie d'échantillons de dimensions variables. S 3000 N dispose également d'un système innovant « Health Monitor », qui surveille les niveaux de performance du SEM pour s'assurer qu'il maintient des performances optimales. Ce système peut suivre les niveaux de performance dans le temps et avertir l'utilisateur lorsque la maintenance est nécessaire. Il est également livré avec une série de logiciels pour permettre l'analyse avancée des matériaux, y compris l'analyse de diffraction électronique pour fournir des informations détaillées sur les structures cristallines ; spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) pour identifier la composition élémentaire ; et diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) pour mesurer l'orientation cristallographique des matériaux. En outre, il est doté d'un système de visualisation, qui permet à l'utilisateur de visualiser une série d'images en temps réel au fur et à mesure de leur acquisition, ce qui permet une analyse et une rétroaction rapides. S-3000 N est un outil de pointe et polyvalent pour l'étude des matériaux, offrant une imagerie haute résolution, une capacité d'analyse et une réponse rapide pour les grands et les petits échantillons. Avec une interface utilisateur intuitive et une gamme de fonctionnalités avancées, S-3000N fournit aux scientifiques un niveau inégalé de contrôle et de précision.