Occasion HITACHI S-3000N #9176872 à vendre en France

HITACHI S-3000N microscope électronique à balayage (SEM) est un équipement d'imagerie et d'analyse de pointe conçu pour des performances supérieures dans une gamme de recherche et d'applications industrielles. Le système combine une grande chambre, une stabilité et un blindage améliorés, ainsi qu'une multitude de fonctions conçues pour l'imagerie, l'analyse et l'évaluation minutieuses et précises. Le SEM a une plage de tension accélérée de 5 kV à 30 kV, ce qui permet d'observer les caractéristiques des échantillons de l'échelle nanométrique au microscale. La chambre d'échantillonnage dispose d'un grand espace d'inspection (250 x 250 mm) et de tables tournantes avancées à faible bruit pour la rotation des étages et la translation des échantillons. Ces fonctionnalités fournissent une performance stable et fiable, permettant aux utilisateurs de travailler avec de plus grands champs de vision et d'observer des détails complexes. L'unité d'imagerie avancée utilise une conception brevetée de filament de tungstène et des boucliers de longue durée pour protéger le SEM contre la dérive et augmenter la durabilité de la machine. En outre, l'outil maintient un grossissement haute résolution jusqu'à 5,000X, ce qui le rend approprié pour des études détaillées et des échantillons complexes. Le logiciel intégré comprend également une gamme d'outils, tels que des logiciels d'enregistrement d'images et de couture d'images, qui permettent aux utilisateurs de construire des images 3D de leurs échantillons. Grâce à cette capacité, les utilisateurs peuvent créer des images précises détaillées et surveiller la topographie de surface de leurs spécimens. HITACHI S-3000 N est également équipé d'un large éventail de capacités d'analyse, y compris l'analyse élémentaire et la cartographie des rayons X. Il est conçu pour permettre aux utilisateurs d'effectuer une caractérisation rapide et précise de la structure interne de l'échantillon et des détails fins. En outre, la suite logicielle intégrée HITACHI E-SEM rend l'actif facile à utiliser, car elle simplifie le fonctionnement des utilisateurs, de la préparation des échantillons à la déclaration des résultats d'analyse. Ce logiciel permet aux utilisateurs de contrôler le modèle efficacement et facilement. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage S 3000 N combine précision et puissance pour permettre aux utilisateurs d'observer et d'analyser leurs spécimens dans les moindres détails. Avec son blindage supérieur et ses capacités d'imagerie supérieures, cet équipement puissant est un outil inestimable pour les chercheurs, les industriels et d'autres professionnels travaillant avec un large éventail de matériaux.