Occasion HITACHI S-3000N #9189738 à vendre en France

HITACHI S-3000N est un microscope électronique à balayage (SEM) doté de capacités de haute résolution et destiné à être utilisé à la fois dans le milieu universitaire et dans l'industrie. Il est équipé d'un détecteur d'électrons secondaires (SE2) à température ambiante avancée, offrant une qualité d'image optimisée et une résolution d'image supérieure. Cet équipement dispose également de plusieurs fonctions automatisées qui réduisent le temps nécessaire à la mise en place et à l'analyse des images. HITACHI S-3000 N est conçu pour durer et est très fiable et peu entretenu. La machine a un 30kV la source d'électron de cathode froide et un condensateur de trois stades et la configuration de colonne objective. Cela permet d'utiliser des lentilles plus petites avec des courants de faisceau plus fins, ce qui améliore la résolution de l'image. En outre, il y a un correcteur de champ croisé et un petit mode d'imagerie par points, permettant à la machine d'imiter des échantillons qui peuvent être plus sensibles au faisceau d'électrons. S 3000 N a un système de balayage rapide et de haute précision qui peut atteindre des résolutions de pas de 0,02 nm. Cela permet des données analytiques précises sur des tailles d'échantillons allant de microns à nanomètres. En plus des fonctions standard d'analyse d'image, l'unité a également été améliorée avec des fonctionnalités telles que le balayage rapide d'image de surface et le balayage de région d'intérêt. HITACHI S 3000 N dispose également d'une machine innovante pour le contrôle des spécimens, étiquetée SE-Sigma Control Tool. Cet actif fournit des mouvements linéaires précis pour l'étage anatomique, le changeur d'échantillon et le rotateur d'étage. Cela permet d'assurer un positionnement précis et reproductible des échantillons sur plusieurs balayages. Enfin, S-3000N comprend une méthode d'irradiation par faisceau de pointe, optimisée pour les électrons à basse énergie. Cela favorise la protection des échantillons contre les effets de meltback et de charge. L'instrument a également plusieurs routines de nettoyage automatisé, conçu pour réduire l'accumulation sur la lentille de colonne et d'autres surfaces. Globalement, S-3000 N est un modèle de microscopie avancé et fiable, capable de fournir des images avec une haute résolution et un contraste d'image supérieur. Les outils automatisés et l'interface conviviale rendent l'équipement facile à utiliser, tandis que les méthodes innovantes d'irradiation du faisceau et le système de contrôle des échantillons permettent d'assurer une protection optimale des échantillons et une analyse répétable et précise.