Occasion HITACHI S-3000N #9208239 à vendre en France

ID: 9208239
Style Vintage: 2000
Scanning Electron Microscope (SEM) Option: W4010 Water chiller Magnification: 15x to 300000x (143 steps) Resolution: Secondary electron image resolution: 3.0 nm (Vacc 25 kV, high vacuum mode) Back-scattered electron image resolution: 4.5 nm (Vacc 25 kV, variable pressure mode) Voltage: 0.3 - 30 kV Specimen size: 150 mm Diameter maximum View monitor: 17" LCD Type Operation: Mouse and sub control pad PC: PC/AT Compatible Operating system: Windows NT Electron gun: W (Tungsten) Hairpin type Stages: X-Axis: 0 - 100 mm Y-Axis: 0 - 50 mm Z-Axis: 5 - 40 mm Tilt: -5 ~ +60° Rotation: 360° (Non step) Vacuum pumps: (2) Rotary pumps Diffusion pump (2) HITACHI CuteVac VR16L-K Rotary pumps Control system: TV Fast mode TV Flow mode 1-4 Step slow mode Reduce mode Power / Utility: PCW: 1-1.5 liter/min Pressure: 0.5-1 kg/cm³ Pressure dry air (PDA): 5 kg/cm³ AC 100 V, Single phase, 5 kVA within GND 2000 vintage.
HITACHI S-3000N est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour être utilisé dans la recherche et l'analyse de matériaux avancés. Le microscope est équipé d'un équipement optique à champ plat à haute résolution, permettant une résolution sous-micrométrique. Il utilise également un filtre d'énergie en colonne permettant un réglage fin des paramètres d'imagerie. Le dispositif dispose également d'une alimentation haute tension avec une précision de 0,01 volt, permettant une imagerie précise et précise. HITACHI S-3000 N est capable d'effectuer une visualisation à la fois standard et à pression variable. L'imagerie électronique secondaire à haute sensibilité et les électrons rétrodiffusés permettent d'observer diverses caractéristiques sur les surfaces des échantillons. De plus, le dispositif est synchronisé avec d'autres systèmes d'imagerie, permettant de mener des recherches corrélatives. Le dispositif est équipé d'un analyseur de rayons X et les résultats peuvent être analysés via un algorithme d'optimisation automatisé. Cela permet l'imagerie SEM de la plus haute qualité et l'analyse d'échantillons. De plus, le microscope comprend un système de contrôle automatique des étages et une fonction de détection automatisée des bords, permettant une imagerie cohérente et répétable. L'unité comprend un processus automatisé d'optimisation des paramètres, permettant un réglage fin des paramètres d'imagerie. De plus, l'appareil est intégré à un logiciel d'analyse granulométrique, permettant une mesure et une analyse rapides et efficaces des caractéristiques d'un échantillon. Dans l'ensemble, S 3000 N est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour la recherche et l'analyse de matériaux. L'optique de pointe et la machine de filtrage de l'énergie, l'optimisation automatisée des paramètres et l'analyse précise des rayons X font de cet appareil un outil puissant pour la recherche d'une variété d'échantillons.
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