Occasion HITACHI S-3000N #9243774 à vendre en France

HITACHI S-3000N est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surface d'une variété d'échantillons. Il utilise des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés, des signaux de rayons X et des signaux optiques pour observer des surfaces d'échantillons en fort grossissement. Le SEM est construit avec une colonne à vide élevé pour une orientation et une observation précises des échantillons. Il a une distance de travail allant jusqu'à 285 mm et permet une large gamme de spécimens jusqu'à 100mm de diamètre. Le microscope utilise la technologie E-canon refroidi par colonne avec la capacité d'atteindre une résolution de 1,5 nm. Cette technologie est capable de capturer des images haute résolution et permet une surface d'imagerie maximale. HITACHI S-3000 N dispose d'un design de détecteur unique pour améliorer encore ses performances. Les détecteurs multicanaux sont capables de manipuler de grands échantillons et sont équipés d'un mode « régulation automatique du gain » (AGR). Ce système de contrôle avancé est conçu pour maintenir une qualité d'image optimale, peu importe les conditions d'observation des spécimens. S 3000 N dispose également d'un système automatisé d'alignement des échantillons (ASA) qui permet un chargement et un alignement faciles des échantillons. En outre, il est équipé d'une lentille de déflexion en colonne (LDF) pour surveiller les électrons en tout temps. Cela garantit une analyse optimale des échantillons et une imagerie de surface. S-3000 N est également construit avec une variété de modes d'imagerie, y compris conventionnelle, TEED, l'imagerie numérique, l'analyse ponctuelle et la numérisation. Il dispose également d'un système de traitement d'image numérique, ce qui le rend idéal pour l'imagerie TEM. Dans l'ensemble, S-3000N est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent qui peut être utilisé pour analyser une variété d'échantillons avec une précision inégalée. Ses caractéristiques avancées et sa technologie en font le choix idéal pour l'observation de structures de surface, ainsi que l'imagerie 3D et l'analyse d'échantillons.