Occasion HITACHI S-3000N #9307468 à vendre en France
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ID: 9307468
Style Vintage: 2003
Scanning Electron Microscope (SEM)
(2) Rotary pumps
Magnification: 5x to 300,000x
Operating system: Windows 2000
Stage:
X-Axis: 80 mm
Y-Axis: 40 mm
Z-Axis: 5 - 35 mm
T: -20° to 90°
R: 360°
2003 vintage.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-3000N (SEM) offre de superbes performances d'imagerie dans les modes à vide faible et élevé. Il est doté d'une source d'électrons à haute précision et haute résolution pour canon à émission de champ Schottky (FEG), d'un balayage et d'une imagerie rapides d'échantillons, et d'une collection de systèmes avancés de détection et d'étape de spécimen. Toutes ces fonctionnalités, combinées à une interface utilisateur facile à utiliser et intuitive, font de HITACHI S-3000 N une solution de pointe pour toutes les exigences d'imagerie, d'analyse et de recherche basées sur SEM. S 3000 N a une source d'électrons 5kV/15kV/30kV Schottky FEG qui est connue pour sa capture d'image haute précision et haute résolution. Sa haute efficacité et sa résolution spatiale sont idéales pour l'imagerie d'échantillons métalliques et non métalliques. De plus, il permet aux utilisateurs de passer de modes de fonctionnement à vide faible, moyen et élevé pour optimiser la qualité du faisceau et de l'image dans un large éventail de conditions d'échantillonnage. Pour la vitesse de balayage et d'imagerie, S-3000N est équipé d'un étage d'échantillonnage ultra-précis avec compensation automatique de dérive et une variété d'options d'alignement et d'imagerie. Cela permet l'acquisition rapide et précise de scans et d'images. De plus, les systèmes d'étapes d'échantillonnage peuvent être configurés pour effectuer diverses fonctions, telles que l'inclinaison, la rotation et la diffraction électronique à balayage, pour une gamme complète de recherches basées sur SEM. En termes de capture et d'analyse d'images, HITACHI S 3000 N dispose d'une sélection complète de détecteurs numériques comprenant un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) et un détecteur d'électrons secondaires (SED). Ils permettent aux utilisateurs de détecter et d'analyser un large éventail de caractéristiques, telles que la topographie de surface, la composition, le contraste de phase et les spectres de rayons X dispersifs d'énergie (EDX). De plus, le système de caméras de télévision en colonne permet de visualiser en direct et d'enregistrer l'évolution de l'échantillon au fil du temps. Enfin, l'interface utilisateur graphique conviviale et intuitive de S-3000 N assure un fonctionnement efficace à tous les niveaux. Il offre un contrôle pratique des paramètres de numérisation et d'imagerie, ainsi que la capacité de stocker et de rappeler facilement les séquences de numérisation fréquemment utilisées. Cet instrument très polyvalent est le choix idéal pour les laboratoires de toutes tailles et pour une large gamme d'applications.
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