Occasion HITACHI S-3200 #9243691 à vendre en France

HITACHI S-3200 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie d'échantillons à fort grossissement. Avec une résolution maximale de 1,5 nanomètres, ce SEM est capable d'observer les caractéristiques nanométriques. Son champ d'observation peut être étendu jusqu'à 200,000X grossissement. S-3200 est équipé de systèmes de détection d'électrons rétrodiffusés et secondaires (BSD et SED) pour capturer les images des éléments légers et lourds de l'échantillon. Les systèmes BSD et SED sont combinés avec un filament à basse température breveté qui permet au microscope de capter des signaux à basse dépression. Cette amélioration de la qualité du signal et des fonctions de mesure intégrées permet une mesure rapide des dimensions de l'échantillon sans réglage manuel des étages. HITACHI S-3200 dispose également d'une colonne optique électronique efficace conçue pour représenter avec précision un échantillon à fort grossissement. Utilisant un système optique à condenseur multi-étages constitué de déflecteurs et d'électrodes transversaux, il ajuste la forme du faisceau pour l'aligner avec l'échantillon. En outre, un champ magnétique a été intégré dans ce système pour éliminer toute aberration des faisceaux d'électrons et obtenir une imagerie à plus haute résolution. La conception de S-3200 intègre deux objectifs, permettant une imagerie complète. Le premier objectif est un objectif de vue de dessus pour l'inspection de surface. Il fournit une plus grande profondeur de focalisation et une résolution améliorée, permettant une imagerie descendante et inclinée. Le deuxième objectif est un objectif BSD à deux faisceaux, conçu pour l'imagerie à deux faisceaux et l'augmentation des écarts de signal. HITACHI S-3200 utilise également une conception à faible dérive pour minimiser les secousses et les vibrations pendant l'observation. Cette conception utilise un élément pneumatique et un flux d'air contrôlé par la température pour maintenir l'échantillon stable pendant les observations. S-3200 fonctionne dans un large éventail de conditions environnementales. Sa fonction d'auto-adaptation peut s'adapter rapidement aux différents niveaux de température/humidité, assurant un fonctionnement précis en tout temps. HITACHI S-3200 dispose également d'un algorithme de mise en scène pour passer rapidement d'un environnement de travail à l'autre. En outre, S-3200 offre des capacités avancées d'acquisition de données et d'analyse. Il supporte la capture d'image rapide, l'automatisation, et dispose d'un système intuitif de gestion d'image. Il dispose également de fonctionnalités d'automatisation 3D et de manipulation d'image, ce qui facilite l'examen des caractéristiques des échantillons nanométriques. Dans l'ensemble, HITACHI S-3200 est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour l'imagerie d'échantillons à fort grossissement. Il offre une large gamme de capacités d'imagerie, y compris les détecteurs d'électrons rétrodiffusés et secondaires, la conception d'étages à faible dérive et l'acquisition et l'analyse de données avancées. De plus, les algorithmes de réglage automatique et de réglage de scène du S-3200 permettent un fonctionnement extrêmement stable dans diverses conditions environnementales. Ainsi, HITACHI S-3200 est un choix idéal pour les applications d'imagerie à l'échelle nanométrique.