Occasion HITACHI S-3200H #152573 à vendre en France

ID: 152573
Taille de la plaquette: 5"
Scanning Electron Microscope (SEM), 5" Type: W IR Chamber scope STS X-Stream imaging system Resolution: 3nm at 30kV Motorized.
HITACHI S-3200H est un microscope électronique à balayage haut de gamme, conçu pour l'imagerie de haute précision et la mesure d'un large éventail de spécimens. Il dispose d'un grand canon à émission de champ Schottky de quatre quadrants, délivrant une imagerie à haute résolution spatiale même à basse tension d'accélération. Le canon a intégré une conception de bruit plus faible, réduisant le bruit de fond pour donner une image claire dans le micrographe. Le microscope est polyvalent pour de nombreuses applications en raison de son choix de modes d'imagerie tels que l'imagerie électronique secondaire et l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB). L'imagerie électronique secondaire utilise un détecteur pour recueillir les électrons éjectés de la surface de l'échantillon à la suite des électrons primaires utilisés pour exciter l'échantillon. Ce mode révèle en détail des caractéristiques de surface. L'ESB permet à l'utilisateur de voir la topographie de l'échantillon, car des électrons à plus haute énergie pénètrent dans l'échantillon et interagissent avec des noyaux atomiques donnant des indications sur la composition de l'échantillon. S-3200H utilise un canon à fonctionnement parallèle et un boîtier de détection avec trois types de détecteurs disponibles pour fournir le maximum de polyvalence. Les détecteurs comprennent un détecteur de petites taches, un détecteur de transmission à balayage et un détecteur de diffusion latérale. La colonne de canon dispose également de la dernière technologie de compensation actuelle qui réduit le bruit du faisceau d'électrons et augmente la clarté de l'image. HITACHI S-3200H offre également des capacités analytiques uniques pour faciliter l'analyse des spécimens, grâce à son spectromètre à rayons X dispersif (EDX). Ce dispositif permet de collecter et d'analyser les signaux de rayons X générés dans l'échantillon lorsque les électrons primaires interagissent avec l'échantillon. Il permet à l'utilisateur d'atteindre un niveau plus profond d'informations sur les échantillons et d'effectuer une analyse chimique sophistiquée de leur échantillon. Enfin, des porte-échantillons sont disponibles pour une variété de types de spécimens et l'utilisateur peut sélectionner n'importe lequel des 3 étages optiques pour convenir au mieux à leur taille d'échantillon. La hauteur de la table d'échantillonnage peut être ajustée entre le pistolet et l'échantillon pour créer un champ de vision plat, ce qui permet d'obtenir des images claires et précises. En conclusion, S-3200H est un outil puissant et polyvalent pour l'imagerie et l'analyse, fournissant des images à haute résolution ainsi qu'une analyse chimique pour un large éventail de spécimens.
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