Occasion HITACHI S-3200N #293769423 à vendre en France

HITACHI S-3200N est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) capable de produire des images à haute résolution avec une précision inégalée. Ses capacités de microanalyse avancées en font un outil précieux pour l'étude des structures des matériaux à l'échelle nanométrique. Le SEM est équipé d'un système de détection avancé, qui permet aux utilisateurs de visualiser des images avec quatre phases de l'état du faisceau, permettant une analyse plus complète. Les fonctions avancées de traitement et d'analyse des images permettent un plus grand degré de détail et de précision dans l'observation des échantillons. Les capacités d'imagerie supérieures de HITACHI S 3200 N sont supportées par sa puissante tension d'accélération pouvant atteindre 200kV, ce qui permet de visualiser des détails fins à partir d'échantillons à faible concentration. Le microscope offre également une variété de caractéristiques de haute performance, telles que la haute résolution, le faible bruit, et l'acquisition rapide d'images. De plus, sa conception d'étages 3 axes intégrée permet un mouvement rapide et efficace des échantillons, permettant aux utilisateurs de surveiller et de comparer rapidement plusieurs échantillons. S-3200N offre également une technique d'imagerie unique, la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD). Cette méthode peut fournir à l'utilisateur des informations sur l'orientation cristallographique d'un échantillon. L'utilisation de techniques d'imagerie avancées telles que l'EBSD fait du S 3200 N un outil précieux pour effectuer des analyses microstructurales détaillées. Les données de l'EBSD peuvent être combinées avec une variété d'autres outils, comme l'analyse de texture de surface et les cartes d'orientation des grains, afin de fournir aux utilisateurs une image plus complète de l'échantillon. HITACHI S-3200N a la capacité d'afficher des images avec jusqu'à 4096 x4096 résolution et jusqu'à 16 niveaux d'échelle de gris. Cela permet d'observer même les détails les plus complexes de l'échantillon. HITACHI S 3200 N fournit également aux utilisateurs une gamme d'options avancées de contrôle de l'utilisateur, telles que le contrôle de la focalisation, le contrôle de l'inclinaison et les fonctions de script. Ces fonctions permettent aux utilisateurs d'affiner facilement les paramètres du microscope, afin que la meilleure image possible soit affichée, et les optimisations. Son logiciel intégré prend également en charge une grande variété d'outils de traitement et d'analyse d'images, y compris le traitement par lots, le comptage des particules et la mesure automatisée. Dans l'ensemble, S-3200N est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent qui fournit aux utilisateurs les meilleures capacités d'imagerie et d'analyse. Ses performances supérieures le rendent idéal pour un large éventail d'applications, de la recherche en sciences des matériaux aux applications de nanofabrication. Les fonctionnalités avancées de la S 3200 N en font l'un des SEM les plus complets disponibles sur le marché.