Occasion HITACHI S-3200N #9208242 à vendre en France

HITACHI S-3200N est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour sonder les micro- et nanostructures de divers matériaux. Il intègre un équipement avancé de numérisation numérique doté d'un étage intégré et d'un détecteur haute résolution, ce qui entraîne un contraste d'image élevé, une résolution d'image améliorée et une plus grande profondeur de champ. Le système HITACHI S 3200 N comprend un système automatique à haut débit pour le montage automatisé des échantillons et le balayage des étages. Diverses techniques d'imagerie avancées peuvent être utilisées au microscope, y compris l'imagerie électronique secondaire à fort contraste (IES), l'imagerie électronique rétrodiffusée (IESB) et l'analyse, y compris la spectrométrie dispersive électronique ou la spectrométrie dispersive d'énergie (EDS). S-3200N permet aux utilisateurs de prendre des images haute résolution avec une variété de lentilles objectives, de 0,5 à 1.000.000x grossissement, et une distance de travail comprise entre 0 et 10mm. L'unité de calibrage des lentilles de S 3200 N assure la véracité et la précision de ces images. HITACHI S-3200N dispose d'une suite complète de fonctions de contrôle de numérisation qui permettent aux utilisateurs d'ajuster les paramètres SEM essentiels pour optimiser l'acquisition d'image. Une procédure d'étalonnage automatisée est utilisée pour assurer un fonctionnement optimal du vide. Le microscope est doté d'une machine de suppression de bruit et d'une technologie de filtrage dynamique qui réduisent les interférences sonores. Le Stage Control Tool de HITACHI S 3200 N permet une navigation automatisée avec une précision répétable dans les axes x, y, z par incréments de nanomètre. L'étage a également une fonction d'inclinaison et de rotation qui permet un positionnement précis des échantillons dans les axes x et y, et un positionnement des échantillons de rotation pour l'imagerie de surface. S-3200N comprend également une fonction d'auto-comptage qui peut compter avec précision les particules dans une zone et un échantillon définis par l'utilisateur. Cela aide à analyser les distributions de particules dans l'échantillon, et aide à comprendre la distribution granulométrique et la porosité. S 3200 N est capable de prendre plusieurs images d'un échantillon automatiquement. Cette fonction peut être utilisée pour surveiller les changements de surface dans le temps ou pour créer une image 3D complète de la surface de l'échantillon. Le microscope peut également être connecté à un PC pour le traitement d'image, l'analyse et le partage de données/résultats. HITACHI S-3200N est conçu pour la microscopie électronique à balayage haute performance et offre des capacités d'imagerie avancées sur une variété de matériaux et d'échantillons. Avec un étage intégré et des systèmes automatisés, HITACHI S 3200 N est un choix idéal pour une recherche précise en nanosciences.