Occasion HITACHI S-3400 #293665940 à vendre en France

HITACHI S-3400 est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) équipé de technologies et de fonctionnalités de pointe. Il est conçu pour fournir une haute qualité d'image et de résolution au niveau du nanomètre avec un débit élevé. L'instrument est applicable à un large éventail d'applications telles que l'analyse des matériaux et les nanotechnologies. Le dispositif est équipé d'un condenseur électromagnétique à trois étages de South Cole de type électrostatique et d'un détecteur d'électrons secondaires à cathode froide pour des capacités d'imagerie supérieures. Le détecteur aide à détecter et à visualiser les électrons secondaires et rétrodiffusés qui améliorent la qualité globale de l'imagerie. En outre, le dispositif comporte également un étage cryogénique dans la lentille, ce qui en fait le premier sur le marché avec une telle caractéristique. Cette étape permet de manipuler des échantillons à basse température, ce qui contribue à réduire les arrondis ou la combustion lors du balayage des échantillons surchauffés, offrant une résolution optimale. La HITACHI S 3400 intègre également un canon émettant des champs pour sa source d'électrons. Ce canon a une excellente stabilité et de faibles caractéristiques sonores le rendant idéal pour l'imagerie à faible courant. L'émetteur du pistolet a un matériau enduit de diamant, ce qui réduit la charge de surface pendant l'imagerie. Cela aide à conserver des images nettes et claires. En outre, l'appareil dispose de fonctions de contrôle automatique et de paramètres précis pour contrôler la stabilité de l'image, le focus et la luminosité. S-3400 dispose d'options avancées de détection et d'analyse telles que les rayons X dispersifs en énergie et l'imagerie analytique. En utilisant ces caractéristiques, le dispositif peut fournir une identification rapide des échantillons et une caractérisation complète. Un autre élément important de la S 3400 est son système de détection analytique à 4 segments. Ce système se compose d'un spectromètre EDX plus 2 détecteurs de rayons X individuels pour une analyse plus rapide et fiable. Le dispositif comporte également un bras de manipulation d'échantillon à 5 axes qui permet un échantillonnage flexible et localisé. En outre, il dispose d'un monochromateur Si cristal permettant un meilleur contrôle spectral et la stabilité. Enfin, HITACHI S-3400 est compatible avec une large gamme de composants tels que les logiciels de traitement d'image et les périphériques permettant aux utilisateurs de personnaliser l'appareil en fonction de leurs besoins. Dans l'ensemble, HITACHI S 3400 est un appareil FE-SEM avancé et fiable avec des technologies et des fonctionnalités avancées pour l'imagerie et les applications analytiques. C'est une option populaire pour les utilisateurs qui ont besoin de haute résolution et précision dans leur analyse.