Occasion HITACHI S-3400N Type II #293604796 à vendre en France

HITACHI S-3400N Microscope électronique à balayage de type II (SEM) est un outil multi-discipline performant conçu pour répondre aux besoins d'une grande variété d'applications industrielles et de recherche. Avec un large éventail de capacités d'imagerie et d'analyse, S-3400N Type II offre des performances d'imagerie améliorées et une flexibilité supérieure, ce qui en fait un atout précieux pour ceux qui ont besoin d'imagerie haute résolution pour leurs expériences de recherche et industrielles. HITACHI S-3400N Type II SEM est un détecteur d'électrons secondaire à vide élevé doté d'un équipement d'imagerie et d'analyse numérique unique. Il utilise un condenseur à double champ dans la lentille, un détecteur de rayons X dispersif en énergie et un étage à cinq axes. Ce système permet l'imagerie haute résolution dans une grande variété de matériaux, y compris les métaux, la céramique, les semi-conducteurs et d'autres matériaux. S-3400N SEM de type II a une plage de grossissement élevée allant jusqu'à 7,2 millions de x, ce qui permet à l'utilisateur de visualiser de petits détails clairement et avec précision. L'objectif à quatre éléments offre une imagerie haute résolution des petites particules et des spécimens avec un large champ de vision. La zone d'imagerie et de numérisation haute résolution de HITACHI S-3400N Type II SEM intègre une unité de cartographie 3D qui offre une vaste gamme de fonctions d'analyse automatisées. Sa machine de cartographie 3D est capable d'acquérir des images sous de multiples angles et de mesurer la microstructure d'un échantillon. S-3400N Type II SEM dispose d'une variété de fonctionnalités d'automatisation, telles que la mise au point automatique et l'extinction automatique, qui améliorent son efficacité et sa productivité. Ses fonctions de mise au point automatique et d'extinction automatique permettent l'inspection, l'analyse et l'imagerie automatisées des échantillons. HITACHI S-3400N Type II dispose également d'un outil de protection contre les collisions pour les échantillons. Il peut détecter les collisions potentielles et protéger les surfaces délicates des échantillons contre les dommages potentiels. S-3400N Le microscope électronique à balayage de type II est un outil d'analyse polyvalent et fiable qui peut être utilisé pour diverses applications de recherche et industrielles. Ses capacités d'imagerie et d'analyse avancées, son large éventail de grossissements et ses fonctions d'automatisation complètes en font un choix idéal pour les utilisateurs à la recherche d'un instrument performant. Avec sa résolution d'imagerie améliorée et sa flexibilité, HITACHI S-3400N Type II SEM est essentiel pour quiconque a besoin d'un appareil d'imagerie haute performance avec d'excellentes capacités.