Occasion HITACHI S-3400N Type II #293799289 à vendre en France

HITACHI S-3400N Type II est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir une imagerie haute résolution et l'analyse des échantillons moyens à grands. Il est excellent pour l'analyse de matériaux tels que les métaux, les semi-conducteurs et les isolants. Ce microscope électronique à balayage peut être utilisé pour diverses applications telles que l'analyse des défaillances, l'imagerie topographique, l'observation des émissions sur le terrain, l'analyse des propriétés de surface et la visualisation 3D. S-3400N Le type II comporte une colonne électronique à balayage contenant une source d'émission de champ capable d'atteindre un niveau élevé de luminosité et de résolution. Le SEM a une plage de grossissement globale de 15X à 1,000,000X avec une plage de tension d'accélération de 0.1V à 30kV. Ce microscope est équipé de l'équipement exclusif de balayage « EcoView » qui garantit des images de qualité maximale à chaque fois. Le SEM offre également la fonction d'alignement d'image « PowerView » qui permet à l'utilisateur de repositionner facilement le champ de vue pour obtenir une image optimale. HITACHI S-3400N Type II est construit avec des fonctionnalités avancées, telles qu'un système automatique de mouvement de l'étage d'échantillonnage. Cela permet de contrôler avec précision la direction x-y-z et le positionnement incliné de l'échantillon. L'unité de chargement de l'échantillon au microscope peut maintenir solidement un échantillon avec une température réglable allant de -180 ° C à + 200 ° C En outre, la machine à vide a un temps de pompage prolongé et est capable d'atteindre des niveaux de vide élevés de 1 × 10\u2074 Torr, fournissant d'excellentes conditions d'imagerie. S-3400N Type II utilise une technique unique « Live Imaging » qui a été développée pour capturer et examiner des images en temps réel. Cette technique permet également à l'utilisateur de scanner l'échantillon à un grossissement plus faible et à une vitesse de balayage plus élevée que les balayages SEM classiques, ce qui conduit à une analyse plus rapide. Ce microscope électronique à balayage fournit également un champ de vision extrêmement large qui est capable de couvrir de grands échantillons. HITACHI S-3400N Type II est un microscope électronique à balayage haute résolution idéal pour diverses applications. Il offre des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures avec sa source d'émissions de haute luminosité, des fonctionnalités avancées telles qu'un étage d'échantillon à température contrôlée et un temps de pompage prolongé outil de vide. Avec l'intégration des systèmes de balayage « EcoView » et « PowerView », ce SEM permet un large champ de vision et d'excellentes techniques d'imagerie en temps réel.