Occasion HITACHI S-3400N Type II #9328867 à vendre en France

HITACHI S-3400N Type II est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu avec une technologie de pointe afin d'effectuer une imagerie et une analyse de haute précision. Il est idéal pour une grande variété de domaines, tels que la science de la vie et des matériaux, ainsi que la micro et nano-électronique. Ce SEM est capable de produire des images détaillées avec une résolution de 84 nm. L'instrument a une double tension d'accélération, permettant à ses utilisateurs d'effectuer l'imagerie et l'analyse avec deux grossissements différents. S-3400N Le type II dispose de chambres de température pour l'imagerie et l'analyse des échantillons thermosensibles. Il peut fonctionner à des températures comprises entre 5 ° C et 350 ° C, ce qui en fait un outil idéal pour analyser les substrats semi-conducteurs des matériaux de nanostructure. La conception de l'objectif accélérateur est basée sur la conception Cloverleaf, qui permet à l'utilisateur d'image et d'analyser jusqu'à 0,6 nm de résolution. Cet outil dispose d'un canon à faible champ d'émission de vide pour l'imagerie de contraste élevé avec une faible distance de travail et le rejet de bruit. HITACHI S-3400N Type II a un détecteur de rayons X dispersif d'énergie avec un système EDX de 256 canaux pour l'analyse élémentaire. Grâce à sa faible capacité de vide, l'instrument est capable d'analyser des matériaux à la fois non conducteurs et hautement conducteurs. Il dispose également d'une gamme complète d'analyses, y compris l'imagerie haute résolution, les signaux de fluorescence et la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS). L'instrument fonctionne sur une puissante interface utilisateur graphique (interface graphique) qui permet aux utilisateurs de faire fonctionner la machine facilement. L'utilisateur peut enregistrer et stocker des données analysées pour une étude plus approfondie. Il est également équipé d'une bibliothèque d'images qui permet de comparer certaines des données enregistrées. S-3400N Type II dispose d'un système d'étalonnage automatique pour le positionnement et la navigation des images qui aide l'utilisateur à positionner et à naviguer correctement les images. Ce SEM haut de gamme est conçu pour répondre aux besoins extrêmes d'imagerie et d'analyse de nombreux domaines. Avec sa technologie de pointe, des mesures précises et une large gamme de capacités d'analyse, HITACHI S-3400N Type II est l'instrument parfait pour une grande variété de domaines de recherche.