Occasion HITACHI S-3400N #293602464 à vendre en France

HITACHI S-3400N est un microscope électronique à balayage (SEM) qui présente une qualité d'image supérieure et une résolution élevée qui est idéal pour analyser la surface d'un échantillon. Il offre un large éventail de capacités, y compris l'imagerie 3D, la métrologie avancée et la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD). Le microscope est équipé d'une colonne haut de gamme qui utilise un canon d'émission de champ de six sections pour fournir un champ de vision étendu (jusqu'à 5 cm) à haut grossissement. Cela permet à l'opérateur d'analyser des échantillons à haute résolution, jusqu'à 1,5 nm avec imagerie électronique secondaire (SEI) et 5 nm avec imagerie à sec point critique (CPD). HITACHI S-3400 N dispose de 4 principaux modes d'imagerie qui permettent d'obtenir des résultats optimaux en fonction des besoins de l'échantillon ; SEI, CPD, imagerie électronique par rétrodiffusion (BEI) et spectroscopie de perte d'énergie électronique (EELS). En mode SEI, les électrons secondaires produits par l'échantillon sont détectés par le détecteur d'électrons et utilisés pour créer une image. Le mode CPD est utilisé lorsqu'une imagerie haute résolution est nécessaire, où des échantillons sont imagés dans une chambre sèche pour réduire la contamination. Le mode BEI crée une image à partir d'électrons rétrodiffusés qui ont rebondi sur la surface de l'échantillon. Ce mode est utilisé pour des échantillons à faible contraste, afin de rendre les détails plus fins visibles. Le mode EELS permet de déterminer la composition chimique d'un échantillon. Pour ce faire, on détecte et mesure les énergies des électrons qui ont été dispersés sur l'échantillon. Ce SEM est également amélioré avec une variété de fonctionnalités dont une lentille longue distance de travail (LWD) qui réduit l'effet des aberrations, un filtre d'énergie haute résolution énergétique, et un mécanisme d'inclinaison d'étage. Le filtre d'énergie haute résolution permet une sélection précise de l'énergie des électrons offrant de meilleures capacités d'analyse et une meilleure imagerie. Le mécanisme d'inclinaison permet un alignement précis de l'échantillon visuellement ou à travers des graphiques et des graphiques. Le S 3400 N est la plate-forme idéale pour l'analyse systématique et complexe, ce qui en fait un bon choix pour une variété de laboratoires.