Occasion HITACHI S-3400N #293606246 à vendre en France

HITACHI S-3400N
ID: 293606246
Style Vintage: 2005
Scanning Electron Microscope (SEM) Detector: SE, BSE Detector Rotary pump Air compressor LCD Monitor Zig-zag capture 3D-Viewer Operating system: Windows XP Pro 2005 vintage.
HITACHI S-3400N est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM). Il comprend une optique électronique de type canon à émission de champ (FEG), qui présente une grande luminosité, une haute résolution et une faible aberration, ce qui rend HITACHI S-3400 N adapté à un large éventail d'applications, y compris l'imagerie de microstructures, l'analyse compositionnelle, l'analyse élémentaire et la mesure de paramètres physiques. S 3400 N offre un haut niveau de performance et de qualité d'image. Son pouvoir de résolution ultra élevé permet d'observer des microstructures fines avec une profondeur de champ supérieure et des caractéristiques sonores faibles. L'équipement d'optique électronique à faible aberration est capable de focaliser exactement, permettant d'observer les objets avec plus de détails. S-3400N est équipé d'un système de focalisation automatique sophistiqué, permettant l'optimisation automatique du niveau de la surface de l'échantillon et de la focalisation de l'image. L'unité dispose également d'un traitement d'image intelligent, permettant à l'utilisateur d'ajuster facilement les paramètres de l'image pour obtenir des résultats optimaux. HITACHI S 3400 N comprend une machine numérique intégrée pour l'imagerie simple et efficace. Il dispose d'un champ de vision réglable (FOV) pour l'évaluation de balayage et peut effectuer plusieurs fonctions telles que le balayage automatisé, les réglages de paramètres d'imagerie et la prise de vue de trames simples ou multiples. L'alignement automatique des images et la couture peuvent également être utilisés pour l'analyse rapide et efficace de grandes surfaces d'échantillons. S-3400 N dispose d'un outil de vide avancé pour fournir une atmosphère stable et constante pour l'imagerie. Ceci est essentiel pour éviter toute contamination ou interférence sonore. Une compensation automatique de la dérive thermique permet de maintenir un plan d'imagerie constant, tandis qu'un modèle de régulation de température empêche la génération de bruit thermique. En conclusion, le microscope électronique à balayage HITACHI S-3400N est un instrument avancé à haute résolution capable de fournir d'excellents résultats d'imagerie pour diverses applications. Il combine une optique électronique haute résolution avec un équipement sophistiqué de focalisation automatique et un système d'imagerie numérique pour une imagerie précise et précise. L'unité de vide avancée assure un environnement d'imagerie stable et propre, tandis que la machine de contrôle de la température évite le bruit thermique. Toutes ces fonctionnalités font de HITACHI S-3400 N le choix parfait pour une variété de tâches d'imagerie.
Il n'y a pas encore de critiques