Occasion HITACHI S-3400N #293653432 à vendre en France

HITACHI S-3400N est un microscope électronique à balayage (SEM) avec un canon à émission de champ qui permet l'imagerie haute résolution et l'analyse d'échantillons organiques et inorganiques. HITACHI S-3400 N comprend un équipement de canon qui est revêtu d'un revêtement isolant au baryum électronique (EBI), ce qui réduit considérablement la charge de surface pendant l'imagerie. Ceci évite le flou des images et permet l'imagerie d'échantillons très détaillés. Le système de canon a d'excellentes capacités de résolution avec une gamme dynamique de 0,2 nanomètres, permettant une imagerie inégalée de petites structures avec une grande clarté. S 3400 N fournit également une gamme d'options de tension accélérée, allant de 0,01 à 20 kV, permettant l'imagerie d'une grande variété d'échantillons. Il est également livré avec une scène X-Y qui a une conception grossière et fine incrément, permettant une navigation et un grossissement précis des échantillons. Cette étape dispose également d'un mécanisme de retour automatique et d'une unité de lecture numérique qui affiche la position exacte de l'échantillon en tout temps. De plus, le HITACHI S 3400 N comprend un détecteur dans la lentille qui rend des images très réalistes avec trois capacités de grossissement, une puissance de grossissement plus élevée, une accumulation plus élevée d'électrons et un détecteur de polarisation qui a une résolution de 1,2 nm et une sensibilité aux rayons X et aux électrons. Cela permet la production d'images tridimensionnelles qui peuvent être utilisées pour analyser la structure interne de surface et la composition chimique d'un échantillon. S-3400N est équipé d'une machine à basse dépression dont le niveau de gaz résiduel est inférieur à 10-10 torr et d'un outil à ultra-haute dépression dont le niveau de gaz résiduaire est inférieur à 10-11 torr. Cela permet l'accumulation d'un vide ultra-élevé en de courtes périodes de temps, ainsi que des réductions significatives de la diffusion des particules et de la charge en surface. S-3400 N dispose également d'une grande chambre qui permet un placement et une manipulation plus précis des échantillons, d'un outil d'opération automatisé qui permet à l'utilisateur de sauvegarder les paramètres et de les rappeler pour une imagerie rapide, et d'un large éventail d'accessoires et d'options de composants pour personnaliser davantage le SEM pour des tâches d'imagerie et d'analyse spécifiques. Dans l'ensemble, HITACHI S-3400N est un microscope électronique à balayage avancé capable de fournir des images à haute résolution et l'analyse d'échantillons organiques et inorganiques, permettant une analyse détaillée des caractéristiques structurelles et des compositions chimiques. HITACHI S-3400 N dispose de plusieurs caractéristiques uniques, dont un modèle de canon EBI, un puissant détecteur dans les lentilles, et un puissant équipement à vide faible et ultra-haut vide, assurant que les utilisateurs sont en mesure d'obtenir des résultats précis et fiables.