Occasion HITACHI S-3400N #293661076 à vendre en France

HITACHI S-3400N Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument de haute performance conçu pour la recherche et l'analyse scientifique et industrielle de pointe. Il est destiné à un large éventail de domaines, y compris la science des matériaux, le contrôle des procédés, la recherche biomédicale et la recherche sur les semi-conducteurs. HITACHI S-3400 N est conçu pour combiner les performances ultimes avec la facilité de fonctionnement. Les fonctions semi-automatisées sont intégrées pour réduire le temps et l'effort requis dans le processus de préparation et d'analyse des échantillons, tandis que la capacité de mesure continue assure l'exactitude et la répétabilité des résultats. S 3400 N utilise une colonne électronique à balayage constituée d'une cathode d'émission de champ, d'une tension d'accélération de 0-30 kV et d'un détecteur d'arc permettant une imagerie à faible vide et à faible bruit. Avec ces composants, l'équipement est capable d'atteindre une résolution de 1,2 nm à un grossissement de 50,000X et une tension d'accélération de 30 kV. L'imagerie de S-3400N est accélérée par l'inclusion d'un système d'analyse des rayons X dispersifs énergétiques (EDX) dans la colonne. Cette unité d'analyse EDX fournit des mesures quantitatives d'éléments trouvés dans l'échantillon, permettant une image plus complète de la composition du matériau étudié. HITACHI S 3400 N peut également être utilisé pour évaluer la forme et la structure des échantillons en utilisant un quantifiner de résistance (RQ). Le RQ combine quelques algorithmes numériques différents avec l'imagerie en champ sombre, permettant une analyse quantitative du relief de surface, de la taille et de la forme des caractéristiques, et d'autres paramètres à effectuer avec un minimum d'effort. Afin d'assurer la sécurité des opérateurs de S-3400 N, la machine est équipée de plusieurs dispositifs de sécurité. Ces caractéristiques comprennent un bouclier de faisceau en alliage de plomb de 9mm d'épaisseur activé par l'utilisateur qui glisse devant la colonne SEM lors de l'activation, minimisant les rayons X stochastiques spéculativement réfléchissants qui peuvent causer des dommages à la peau. Le SEM est également équipé d'un régulateur de shunt à faible bruit et d'un outil de piège à ions, qui empêchent les électrons émis de s'échapper et de causer du tort à l'utilisateur. HITACHI S-3400N fournit également l'intégration avec une variété de logiciels, permettant le traitement des données et l'analyse des images et des mesures EDX. Cette intégration logicielle permet de stocker, traiter et partager les données avec divers systèmes. Pour assurer une performance optimale de HITACHI S-3400 N, un entretien régulier est recommandé. Cela inclut le nettoyage périodique des composants sous vide (colonne image et détecteur EDX) pour éliminer toute accumulation de débris qui peut entraver la performance de l'actif. En résumé, le microscope électronique à balayage S 3400 N offre des capacités d'imagerie haute performance, d'excellentes capacités d'analyse des rayons X dispersifs d'énergie (EDX) et intègre de nombreuses caractéristiques de sécurité. Combiné à des fonctions automatisées faciles à utiliser, S-3400N facilite l'efficacité de l'utilisateur et permet un débit optimal des résultats de recherche.