Occasion HITACHI S-3400N #293763066 à vendre en France

ID: 293763066
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3400N est un microscope électronique à balayage haut de gamme (SEM) conçu pour la recherche avancée. Avec des capacités d'imagerie avancées et une imagerie haute résolution, HITACHI S-3400 N permet aux chercheurs de visualiser des objets à l'échelle nanométrique. Le SEM dispose d'une colonne électronique nouvellement conçue, qui aide à améliorer la qualité de l'image. La colonne a un objectif intégré qui produit une profondeur de champ étendue afin de fournir une plus grande profondeur de focalisation lors de la visualisation des objets à une échelle nanométrique. La colonne supporte également une nouvelle chambre à vide magnétique à trois étages, qui assure que la colonne et la chambre d'échantillonnage restent intactes pendant l'utilisation. S 3400 N est capable de capturer des images avec une résolution allant jusqu'à 5 milliards de pixels, permettant une imagerie plus détaillée que jamais. Le SEM a une résolution détectable de 0,1 nanomètres, ce qui rend même le plus petit objet visible à l'œil. Avec sa puissante gamme de grossissements, le SEM peut optimiser la qualité de l'image dans les grossissements faibles et élevés. S-3400 N dispose également d'une large gamme de contrôles automatisés, ce qui facilite son utilisation. L'interface utilisateur du SEM est conviviale, ce qui permet aux chercheurs d'ajuster rapidement et avec précision les paramètres. En outre, le SEM est compatible avec une variété d'accessoires, permettant au chercheur de personnaliser le SEM à leurs besoins. S-3400N dispose également de capacités d'imagerie avancées qui en font l'un des plus puissants SEM sur le marché. Il est doté à la fois d'un détecteur d'ESB et d'un détecteur de SE, ce qui permet aux chercheurs de capturer des objets aussi bien lumineux que sombres. Le SEM supporte également une variété de caméras et de lentilles, permettant au chercheur de tout capturer d'une vue grand angle à une vue ultra haute résolution. Globalement, avec ses capacités d'imagerie avancées, ses contrôles conviviaux et sa large gamme d'accessoires compatibles, le HITACHI S 3400 N est un excellent choix pour les chercheurs à la recherche d'un SEM puissant. Avec sa résolution imbattable et sa qualité d'imagerie, HITACHI S-3400N est sûr d'aider les chercheurs à mieux comprendre le monde nanométrique.
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