Occasion HITACHI S-3400N #293800494 à vendre en France

HITACHI S-3400N est un microscope électronique à balayage (SEM) largement utilisé dans les applications scientifiques et techniques. Ce microscope électronique à balayage utilise un faisceau d'électrons pour produire des images d'une surface d'échantillon à partir de laquelle sa structure, sa composition élémentaire et son état chimique peuvent être déterminés. Les bases de HITACHI S-3400 N sont composées d'un canon à électrons pour la génération du faisceau d'électrons, de lentilles pour focaliser le faisceau, d'un déflecteur pour balayer l'échantillon dans un motif de raster, et d'un détecteur pour transformer le faisceau d'électrons en une image visuelle. L'appareil peut agrandir des échantillons jusqu'à 300 000 fois. Ce modèle particulier possède également des capacités d'imagerie avancées telles que l'alignement automatique, l'imagerie et la détection à grande vitesse, et une variété de fonctions de mesure telles que les analyses tridimensionnelles. S 3400 N utilise un canon à émission de champ comme source d'électrons. Ce canon est capable de générer un courant de poutre élevé jusqu'à 10mA avec une distance de travail minimale de 0,13 mm et une plage de grossissement de 10 à 300 000 fois. Le pistolet dispose également de plusieurs lentilles pour une condensation et une déviation optimales du faisceau. Le déflecteur dans S-3400 N est un type haute tension haute résolution et haute vitesse capable de collecter des données à grande vitesse sur une large gamme. Il dispose également d'un alignement automatique très précis qui permet de capturer avec précision les images des échantillons en mouvement. De plus, la limite et la portée de balayage peuvent être commandées indépendamment du canon, ce qui garantit une imagerie de haute précision. Le détecteur en S-3400N est conçu pour convertir le faisceau d'électrons en une image visuelle rapide et précise. Il est équipé d'une plaque déflectrice multilatérale, qui peut être utilisée pour afficher les électrons détectés dans différentes directions selon le type d'échantillon. Cela permet une imagerie efficace des caractéristiques telles que les particules et les structures cristallines. Le microscope électronique à balayage HITACHI S 3400 N est un outil puissant qui fournit des images à très haute résolution avec un mouvement rapide et une grande précision pour les applications scientifiques et techniques. Ses caractéristiques avancées et son système de lentilles permettent aux chercheurs d'obtenir une image détaillée de la surface de l'échantillon et de sa composition. Le dispositif fournit une solution idéale pour les applications impliquant l'analyse des matériaux, la microélectronique, et bien d'autres.