Occasion HITACHI S-3400N #9153016 à vendre en France

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ID: 9153016
Style Vintage: 2007
Variable pressure scanning electron microscope (1) 52E-0012: PC Controlled variable pressure SEM Microscope accessories: (1) 52E-0530: Environmental secondary electron detector (ESED) (1) HTC-IRCS: Hitachi infrared chamber view system including a 9" FPD (1) 52E-0531: Stitching and zigzag software EDS Options: (1) 52E-0540: iEDX Integration package (1) INSEGR: INCA Energy Additional microscope options: (1) 50E-0524: Wehnelt for pre-centered cartridge filament (10) 50E-0240: Pre-centered cartridge filament (1) 52E-0511: Faraday cup device Sample holder options: (1) 52E-4089: Multi sample holder (15x4p) for Type-II P/N: 52E-4918 2007 vintage.
HITACHI S-3400N est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des capacités d'imagerie haute résolution avec d'excellentes performances de signal à bruit. Ce SEM avancé est adapté à un large éventail d'applications, y compris l'analyse nanométrique, la fabrication de dispositifs semi-conducteurs et la science de la surface. L'équipement optique avancé de HITACHI S-3400 N utilise un canon à électrons à émission de champ Schottky corrigé de l'aberration, permettant un courant de faisceau jusqu'à 200 pA avec une taille de tache inférieure à 5 nanomètres. Le mécanisme de balayage de haute précision unique et la conception brevetée du déflecteur assurent une formation d'image stable, sans distorsion d'image et un déplacement d'image minimal. Le balayage multi-mode de type bouton permet un balayage en douceur dans toutes les directions, et est facile à contrôler, même avec un seul doigt. S 3400 N est livré de série avec un système de spectroscopie par rayons X dispersive d'énergie (EDS), qui permet l'analyse élémentaire et la cartographie de la composition. L'unité EDS est équipée d'un nouveau détecteur de semi-conducteurs X-TalTM ultra-thinSDD, qui fournit une excellente efficacité de détection et de faibles performances sonores. La fonction de numérisation dynamique permet l'acquisition et l'analyse rapides d'images numériques, tandis que l'analyse de segments en temps réel et l'analyse numérique automatisée permettent des résultats rapides et précis. La machine d'acquisition de données numériques de S-3400N supporte une large gamme de formats de sortie numérique, y compris BMP, JPEG, TIFF et d'autres formats communs. L'outil d'acquisition de données numériques supporte également la télécommande, ce qui permet de l'exploiter à partir d'un ordinateur distinct. L'ordinateur peut être utilisé pour contrôler le microscope, capturer et analyser des images, ajuster les paramètres, et plus encore. HITACHI S 3400 N est conçu pour fournir un environnement d'imagerie ergonomique sûr. Le microscope est enfermé dans un boîtier de blindage électromagnétique qui réduit les interférences provenant de sources extérieures et protège l'actif optique, ainsi qu'une armoire à motifs en nid d'abeille qui atténue les vibrations et protège la machine contre les chocs extérieurs. Le modèle d'éclairage LED fournit un éclairage cohérent et aide à éliminer les erreurs optiques. Le panneau de commande est facile à utiliser et fournit une rétroaction claire pour l'utilisateur, et l'équipement est équipé d'un interrupteur d'arrêt d'urgence pour aider à assurer la sécurité. S-3400 N microscope électronique à balayage HITACHI est un instrument polyvalent et fiable capable de fournir une imagerie haute résolution et un excellent signal aux performances sonores. Son système d'imagerie avancé, ses capacités d'acquisition de données numériques et son design intuitif et ergonomique en font un excellent choix pour les chercheurs et les ingénieurs qui cherchent à repousser les limites de la technologie d'imagerie.
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