Occasion HITACHI S-3400N #9363668 à vendre en France

HITACHI S-3400N Scanning Electron Microscope (SEM) est la dernière génération d'instruments de pointe de recherche de HITACHI High Technologies. Ce produit est conçu pour les applications les plus exigeantes de microscopie électronique à balayage (SEM) telles que l'imagerie et l'analyse d'échantillons à l'échelle millimétrique et l'imagerie ultra haute résolution d'échantillons à l'échelle nanométrique. Il a une source d'émissiongun de champ (FEG) et dispose d'une haute stabilité géométrique, extrêmement faible charge-up et faible bruit fonctionnement, excellente stabilité du courant et réduction de la dérive de l'échantillon. HITACHI S-3400 N comprend un grossissement élevé, un large champ de vision, une hauteur réglable et un étage d'échantillon incliné, ainsi qu'un système d'imagerie numérique directe. TheStage peut être équipé de systèmes optionnels de cryostage et de vide pour une utilisation avec des échantillons métalliques et non métalliques, permettant une évaluation quantitative des propriétés électromécaniques et thermoélectriques à basse température. Le système de manipulation des échantillons comprend également un large choix de porte-échantillons, tels que l'alignement mécanique et électrostatique des échantillons et leur transfert. Le S 3400 N est équipé d'un logiciel d'imagerie numérique facile à utiliser et offre plusieurs fonctionnalités d'imageinversion. Cet instrument est également conçu de façon unique pour permettre aux utilisateurs de visualiser l'image SEM primaire, les images secondaires provenant du même détecteur ou de détecteurs différents, à la même heure. Une gamme complète de paramètres d'imagerie est disponible, y compris des détecteurs pour la cartographie élémentaire. HITACHI S 3400 N peut être utilisé pour diverses applications, y compris l'imagerie de matériaux isolants, la visualisation de la nanostructure de matériaux, la diffraction électronique et la microscopie dynamicélectronique. En outre, ses capacités d'imagerie haute résolution sont essentielles pour l'inspection des microscaleobjects. Testé en laboratoire et certifié SICM, le S-3400Nprovides excellente vitesse d'image et la qualité et est une référence pour les applications de recherche liées à SEM. S-3400 N offre une large gamme de fonctionnalités qui aident à maximiser votre productivité et à améliorer les études liées à SEM. Avec son système entièrement automatisé, sa haute précision, son électronique de pointe et la technologie d'imagerie la plus récente, S-3400N est l'outil idéal pour une grande variété de recherches. HITACHI S-3400N peut être mis à niveau avec une gamme d'accessoires supplémentaires en option pour répondre aux besoins de votre projet et améliorer votre expérience en microscopie électronique à balayage.