Occasion HITACHI S-3400N #9384953 à vendre en France

HITACHI S-3400N est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution pour un large éventail de matériaux et d'échantillons. Il est construit sur la colonne d'exception Advanced Parallel Electron Beam (APE), avec une tension d'accélération jusqu'à 10 kV, un courant de faisceau jusqu'à 200 pA, et une énergie de faisceau étalée de 5 à 200 keV, permettant une mesure de haute précision de la forme, de la structure et de la composition élémentaire des matériaux. HITACHI S-3400 N utilise un équipement d'alignement multipolaire avancé (FAS), qui calibre et maintient des performances optimales avec un minimum d'effort. Ce système est équipé d'un mécanisme de focalisation automatique du faisceau d'électrons de haute précision et d'une unité de refroidissement de l'air, ce qui lui permet de rester fonctionnel même pendant de longues périodes d'observation. De plus, cet instrument polyvalent dispose d'un contrôle à 6 axes, avec une taille de l'échantillon comprise entre 0,2 mm et 100 mm et un poids de l'échantillon jusqu'à 4 kg. Le principal avantage du S 3400 N est sa capacité d'imagerie haute résolution. Il est fabriqué avec une lentille à condenseur à deux étages à ouverture numérique élevée, permettant à l'utilisateur d'observer des structures complexes et des détails dans l'échantillon jusqu'à 0,2 nanomètres. En outre, la machine est équipée d'un détecteur SE (électrons secondaires) intégré et d'un détecteur SE à haute sensibilité, qui permettent à l'utilisateur d'obtenir avec précision des images de l'échantillon avec une vitesse optimale. S-3400N offre également un large éventail de capacités d'analyse pour l'étude des échantillons. Il peut acquérir des spectres EDX (energy-dispersive X-ray spectroscopy) avec une résolution allant jusqu'à 0,1 %, ainsi que des cartes WDX (waength-dispersive X-ray spectroscopy) avec une résolution allant jusqu'à 0,01 %. Il peut également être utilisé pour des observations EBSD (electron backscatter diffraction), avec quatre modes d'analyse différents, ainsi que pour des analyses de surface, avec une gamme d'états de surface allant de courants propres dépassant 1A/cm2 à des échantillons sensibles au flux avec des courants de surface allant jusqu'à 0.002A/cm2. Pour fournir des performances optimales pour une variété d'applications, HITACHI S 3400 N offre une gamme de fonctions avancées. Il s'agit notamment d'un mode à double vue qui permet à l'utilisateur d'observer simultanément la surface et le sous-sol de l'échantillon, ainsi que d'un mode 3D qui permet de capturer des images de surface 3D de l'échantillon. De plus, l'outil de contrôle d'imagerie avancé de l'instrument permet à l'utilisateur de manipuler facilement le faisceau d'électrons tout en observant l'échantillon, ainsi que de stocker des images, des réglages et d'autres données liées à l'observation. En résumé, S-3400 N est un microscope électronique à balayage avancé avec plusieurs capacités d'analyse et d'imagerie qui permettent à l'utilisateur d'observer et d'analyser des échantillons avec précision. Son atout FAS avancé, ses détecteurs à haute sensibilité, son puissant étalage de l'énergie du faisceau et son contrôle d'échantillons à 6 axes offrent aux utilisateurs une performance optimale pour un large éventail d'applications.